【摘要】 本发明提供一种扫描链诊断向量生成方法和装置及扫描链诊断方法。所述诊断向量生成方法，包括如下步骤：确定扫描链的故障类型；根据扫描链的故障类型设定约束条件；在约束条件下，使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到的输出或伪输出数目最大，生成扫描链诊断向量。所述诊断向量生成装置，包括如下部件：故障类型判别单元，用于判别扫描链的故障类型；约束条件单元，用于根据故障类型设定约束条件；诊断向量生成单元，用于在所述约束条件下，使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到的原始输出或伪输出数目最大，生成扫描链诊断向量。本发明能够有效地容忍组合逻辑中的故障，且不会给电路带来硬件开销。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院计算技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100080 北京市海淀区中关村科学院南路6号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810106261.6 【申请日】2008-05-09 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101285871B 【公开公告日】2010-07-28 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101285871B 【授权公告日】2010-07-28 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/3185 【发明人】王飞; 胡瑜; 李晓维 【主权项内容】一种容忍组合逻辑故障的扫描链诊断向量生成方法，包括如下步骤： 步骤S1，确定扫描链的故障类型； 步骤S2，根据扫描链的故障类型设定约束条件； 步骤S3，在约束条件下，使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到的输出或伪输出数目最大，生成扫描链诊断向量。 ： 【当前权利人】中国科学院计算技术研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村科学院南路6号 【统一社会信用代码】12100000400012342E 【家族被引证次数】11
