【摘要】 本发明公开了一种用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪，包括温度控制器、光源、准直与会聚单元、分光与延迟单元、非线性效应单元和信号探测单元；其中，温度控制器用于控制作为光源的激光器的温度，解决激光器激射波长易漂移的问题，并可整体调整，实现光路调节；激光器作为光源，其出射光依次经过准直与会聚单元中的自聚焦透镜、分光与延迟单元、准直与会聚单元中的平凸透镜，以及非线性效应单元，进入信号探测单元，实现对激光器出射光的测量。本发明将激光器温度稳定在0.2°以内，并通过改变温度调节半导体激光器的输出波长，扩大可测试的波长范围，提高测试灵敏度，从而满足对红光半导体激光器产生超短脉冲进行测试的需要。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院半导体研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100083 北京市海淀区清华东路甲35号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810106277.7 【申请日】2008-05-09 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101576414B 【公开公告日】2010-12-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101576414B 【授权公告日】2010-12-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01J11/00 【发明人】刘运涛 【主权项内容】一种用于测量红光超短脉冲半极大全宽度的自相关测量仪，其特征在于，该自相关测量仪包括温度控制器、光源、准直与会聚单元、分光与延迟单元、非线性效应单元和信号探测单元；其中，温度控制器用于控制作为光源的激光器的温度，解决激光器激射波长易漂移的问题，并可整体调整，实现光路调节；光源类型为半导体激光器，该半导体激光器出射光依次经过准直与会聚单元中的自聚焦透镜、分光与延迟单元、准直与会聚单元中的平凸透镜，以及非线性效应单元，进入信号探测单元，实现对激光器出射光的测量。 （，） 【当前权利人】中国科学院半导体研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区清华东路甲35号 【统一社会信用代码】12100000400012385U 【引证次数】5.0 【他引次数】5.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】2
