【摘要】 本发明公开了一种快速响应电子器件响应速度的测试装置及其测试方法，本发明之响应速度测试装置包括电源控制电路，至少两组被测电子器件的响应模组，计时器；所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各响应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号同步。本发明针对快速响应电子器件的响应速度测试成本高及测量精度不高的现有缺陷，采用多组被测器件串联测量总响应时间，通过计算得出每组器件的响应时间，无需使用费用昂贵的显示仪器，同时能够得到同一型号电子器件响应速度的高精度的测试结果。 【专利类型】发明授权 【申请人】清华大学; 北京维信诺科技有限公司; 昆山维信诺显示技术有限公司 【申请人类型】企业,学校 【申请人地址】100084 北京市清华大学何添楼111室 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810115885.4 【申请日】2008-06-30 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101303384B 【公开公告日】2010-11-10 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101303384B 【授权公告日】2010-11-10 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/00; G01R31/26 【发明人】邱勇; 张柳青; 高裕弟; 应根裕 【主权项内容】一种快速响应电子器件响应速度的测试装置，其特征在于，包括电源控制电路，至少两组被测电子器件的响应模组，计时器，所述电源控制电路与响应模组电源端电连接，各响应模组串联连接，计时器的触发开信号与第一组响应模组的触发信号同步，计时器的触发关信号与最后一组响应模组的输出信号同步。 【当前权利人】清华大学; 北京维信诺科技有限公司; 昆山维信诺显示技术有限公司 【当前专利权人地址】北京市清华大学何添楼111室; 北京市海淀区上地信息路11号彩虹大厦一层; 江苏省苏州市昆山市昆山高新区晨丰路188号 【专利权人类型】公立; 有限责任公司(法人独资); 有限责任公司(非自然人投资或控股的法人独资) 【统一社会信用代码】12100000400000624D; 91110108801169316Y; 91320583785986462K 【引证次数】6.0 【他引次数】6.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】6
