【摘要】 本文所介绍的发明提供双色微阵列芯片测量系统中可靠测量荧光信号的方法 和仪器。在双色荧光实验中使用两种荧光团标记样品时，所提供的方法和仪器可以 使用户校正FRET干扰和荧光串扰。此发明中包含校正的方法、计算校正所需系统 因子的方法、配套荧光扫描仪和适用于校正过程的微阵列芯片。这些方法通过在Cy5 与Cy3之间存在FRET作用的微阵列芯片所证实。 【专利类型】发明申请 【申请人】博奥生物有限公司; 清华大学 【申请人类型】企业,学校 【申请人地址】102206中国北京市昌平区生命科学园路18号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】昌平区 【申请号】CN200880000688.6 【申请日】2008-06-11 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101688838A 【公开公告日】2010-03-31 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101688838B 【授权公告日】2012-05-23 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01N21/64 【发明人】朱疆; 邓橙; 黄国亮; 徐书宽; 程京 【主权项内容】1、一种用于双色荧光测量系统的微阵列芯片，包含用于确定荧光测量校正因子的 三种标准探针点，即： 标准探针点1，仅含配体，而不含受体； 标准探针点2，仅含受体，而不含配体，其数量与标准探针点1上的配体数量相同； 标准探针点3，含有等数量的配体与受体。 【当前权利人】博奥生物集团有限公司; 清华大学 【当前专利权人地址】北京市昌平区生命科学园路18号; 北京市海淀区清华园 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400000624D 【引证次数】1.0 【被引证次数】12 【他引次数】1.0 【被他引次数】12.0 【家族引证次数】9.0 【家族被引证次数】20
