【摘要】 本发明公开了一种测量数字存储示波器存储深度的方法，包括步骤：a、将被测数字存储示波器置于实时采样状态下最高采样率所对应的时基档位，触发方式设置为单次触发；b、输入一测试信号给被测数字存储示波器，单次触发采集结束后，根据屏幕上显示的时基和所有波形所占格数，依据公式：存储深度＝时基×波形所占格数×最高采样率，得到被测数字存储示波器的存储深度。本发明通过实时采样状态下最高采样率所对应的时基档位设置以及单次触发方式的设置，获得一段连续的波形记录，根据波形记录的时间长度、最高采样率得到存储深度，这样，用户就可以根据获取的数字存储示波器存储深度这一重要的技术指标，选择合适的数字存储示波器用于信号的测量。 【专利类型】发明授权 【申请人】电子科技大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】611731 四川省成都市高新西区西源大道2006号 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请人区县】郫都区 【申请号】CN200810044247.8 【申请日】2008-04-18 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101261300B 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101261300B 【授权公告日】2010-06-23 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/00; G01R35/00; G01R13/02 【发明人】王厚军; 田书林; 叶芃; 隋良杰; 滕志超 【主权项内容】一种测量数字存储示波器存储深度的方法，其特征在于，包括以下步骤：a、输入一测试信号给被测数字存储示波器，测试信号为单调递减函数的锯齿波，锯齿波周期由下列公式计算得到：b、将被测数字存储示波器置于实时采样状态下最高采样率所对应的时基档位，触发方式设置为单次触发，预触发深度设置为零，触发信号为示波器输入的锯齿波信号，触发方式为边沿触发，耦合方式为交流耦合，基线调整到数字存储示波器屏幕的中间位置；c、单次触发采集结束后，根据屏幕上显示的时基和所有波形所占格数，依据公式：存储深度＝时基×波形所占格数×最高采样率得到被测数字存储示波器的存储深度。F2008100442478C00011.tif 【当前权利人】电子科技大学 【当前专利权人地址】四川省成都市高新西区西源大道2006号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】121000004507193117 【引证次数】4.0 【自引次数】1.0 【他引次数】3.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】12
