【摘要】 基于条纹特性提取算法的相干合成相位测控装置，由种子激光器输出的激光束经过准直器准直后经过1xN分束器，再经过预放级和放大级两级激光放大，通过分离式变形镜反射到空间压缩器，压缩空间距离后的光束再经过聚焦透镜会聚到远场成像系统上，内置于计算机的条纹特性提取算法分析远场成像系统上采集到的远场相干光斑条纹，计算机通过控制高压放大器将所需的控制电压施加在分离式变形镜的各个电极上，控制分离式变形镜校正多路光束间的位相差，本发明基于条纹特性提取算法能够直观、准确地测量出平移相位特性随时间的变化曲线，通过功率谱分析，能够确定出系统所需的控制带宽，对多路激光相干合成的控制过程也更加简单有效。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院光电技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】610209 四川省成都市双流350信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请人区县】双流区 【申请号】CN200810226223.4 【申请日】2008-11-07 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101393376B 【公开公告日】2010-06-30 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101393376B 【授权公告日】2010-06-30 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G02F1/35; G01J9/00; G06F19/00 【发明人】杨平; 杨若夫; 沈锋; 许冰 【主权项内容】基于条纹特性提取算法的相干合成相位测控装置，其特征在于：包括种子激光器、准直器、1xN分束器、激光预放级、激光放大级、分离式变形镜、空间压缩器、聚焦透镜、远场成像系统、计算机和高压放大器，由种子激光器输出的激光束经过准直器准直后经过分束器，先后再经过预放级和放大级两级激光放大，再通过分离式变形镜反射到空间压缩器，压缩空间距离后的光束再经过聚焦透镜会聚到远场成像系统上，内置于计算机的条纹特性提取算法用来分析计算机采集到的远场成像系统上的相干光斑条纹，根据相干条纹左右移动特性，可以准确获得多路激光束间的平移相位的时变特性，通过对该时变特性作功率谱变换，可以获得平移相位的频率变化特性，从而获知控制系统校正该位相差需要达到的控制带宽，计算机通过控制算法控制高压放大器，将所需的控制电压施加在分离式变形镜的各个电极上，控制分离式变形镜校正多路光束间的位相差。 【当前权利人】中国科学院光电技术研究所 【当前专利权人地址】四川省成都市双流350信箱 【统一社会信用代码】12100000450811820A 【家族被引证次数】17
