【摘要】 一种实现超分辨成像功能的金属介质膜结构，其特征在于包括下列步骤：(1)选择入射光，其波长为λ；(2)选择金属材料和介质材料，介电常数分别为εm和εd；(3)交替排布金属薄膜和介质薄膜材料，形成多层金属介质薄膜结构，其中金属和介质单层膜层厚度分别为dm和dd，多层金属介质膜的总厚度为d；(4)将物点放置于多层膜材料的一侧，并用入射光来照射，在另一侧即可成像，其物像之间的距离为(5)步骤(3)所得结构即为能够实现超分辨成像功能的金属介质膜结构。本发明的金属介质膜结构，不需要金属和介质的介电常数匹配，只要在结构参数选择上满足特定条件，即可实现倏逝波放大，从而可以大大拓展实现超分辨成像的工作波长。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院光电技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】610209 四川省成都市双流350信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请人区县】双流区 【申请号】CN200810119562.2 【申请日】2008-09-03 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101349771B 【公开公告日】2010-12-08 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101349771B 【授权公告日】2010-12-08 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G02B3/00 【发明人】王长涛; 刘尧; 赵延辉; 罗先刚 【主权项内容】一种实现超分辨成像功能的金属介质膜结构，其特征在于：包括：由交替排布的金属薄膜和介质薄膜形成的多层金属介质薄膜结构，所述多层金属介质薄膜结构用于对波长为λ的入射光进行成像；所述金属和介质单层膜层的厚度分别为dm和dd，多层金属介质膜的总厚度为d，单层金属薄膜和介质膜的厚度为λ/40到λ/10，多层金属介质膜的总厚度d为λ/5到λ/2。 【当前权利人】中国科学院光电技术研究所 【当前专利权人地址】四川省成都市双流350信箱 【统一社会信用代码】12100000450811820A 【家族被引证次数】12
