【摘要】 一种短路检测电路，用以检测背光模块的短路状况，其中背光模块包含一白光发光二极管电路，白光发光二极管电路包含第一端及第二端，第一端电性连接一输出电压，第二端电性连接至一驱动电路，短路检测电路包含：一P型金属氧化物半导体晶体管、一N型金属氧化物半导体晶体管、一负载及一检测模块。P型金属氧化物半导体晶体管的栅极接收第一电压，源极电性连接至第二端；N型金属氧化物半导体晶体管的栅极接收参考电压，漏极电性连接至P型金属氧化物半导体晶体管的漏极，源极电性连接至一检测端；当白光发光二极管电路具有短路状况而于第二端产生一短路电位，且参考电压为一高态时，检测端的电压亦为一高态，使电性连接检测端的检测模块触发以检测到短路状况。 【专利类型】发明申请 【申请人】原景科技股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾台南县 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810172807.8 【申请日】2008-10-29 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101730349A 【公开公告日】2010-06-09 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101730349B 【授权公告日】2013-10-02 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】H05B37/03; F21V23/00; G09G3/36 【发明人】陈廷仰; 李秋平; 尹明德 【主权项内容】一种短路检测电路，用以检测一背光模块的短路状况，其中该背光模块包含一白光发光二极管电路，该白光发光二极管电路包含一第一端及一第二端，该第一端电性连接一输出电压，该第二端电性连接至一驱动电路，该短路检测电路包含：一P型金属氧化物半导体晶体管，包含一栅极、一漏极及一源极，其中该栅极接收一第一电压，该源极电性连接至该第二端；一N型金属氧化物半导体晶体管，包含一栅极、一漏极及一源极，其中该栅极接收一参考电压，该漏极电性连接至该P型金属氧化物半导体晶体管的该漏极，该源极电性连接至一检测端，当该白光发光二极管电路具有一短路状况而于该第二端产生穿过该P型金属氧化物半导体晶体管的一短路电位，且该参考电压为一高态时，该检测端的电压亦为一高态；一负载，电性连接于该N型金属氧化物半导体晶体管的该源极及一接地电位之间；以及一检测模块，电性连接该检测端，当该检测端的电压为高态时，触发该检测模块以检测到该短路状况。 【当前权利人】原景科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾台南县 【被引证次数】5 【被自引次数】2.0 【被他引次数】3.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】5
