【摘要】 本发明揭露一种IC异位检测方法(a method for detecting IC position deviation)，用以检测一承载盘(tray)中的IC的位置是否发 生异位，承载盘承载有多个以阵列排列的IC。IC异位检测方法是通过投 射激光与一取像装置接收激光的反射影像而得，其中，取像装置所产生的 取像画面具有一预先设定的基准位置。 【专利类型】发明申请 【申请人】京元电子股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】台湾省新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810213392.4 【申请日】2008-09-02 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101666618A 【公开公告日】2010-03-10 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01B11/00 【发明人】李明俊 【主权项内容】1.一种IC异位检测方法，用以检测一承载盘中的IC的位置是否发 生异位，该承载盘承载有多个以阵列排列的IC，该IC异位检测方法是通 过投射激光与一取像装置接收该激光的反射影像而得，其中，该取像装置 所产生的取像画面具有一预先设定的基准位置，其特征在于，该IC异位 检测方法包含： 投射一激光至该承载盘上的特定位置IC，该取像画面的基准位置至该 特定位置IC上的激光投射位置的距离设定为基准距离； 自该特定位置IC沿一特定阵列的方向依序投射激光至该特定阵列的 所有IC，并依序取像，各该取像画面的基准位置至各IC的激光投射位置 的距离为测量距离； 比对各测量距离与该基准距离，当比对结果超过一预先设定的误差范 围时，即称该IC具有异位； 若该特定阵列的所有IC均不具有异位，则设定该特定阵列的所有IC 的测量距离为基准距离阵列； 以垂直该特定阵列的方向取得该特定阵列的邻接阵列的IC的测量距 离阵列； 比对该测量距离阵列与该基准距离阵列，当比对结果在该预先设定的 误差范围时，则重新设定该邻接阵列为基准阵列，该测量距离阵列为基准 距离阵列；以及 依序取得另一邻接阵列的测量距离阵列、比对基准距离阵列、取得比 对误差、检出异位IC、重设基准距离阵列，至该承载盘中的所有IC的位 置均测量完毕为止。 【当前权利人】京元电子股份有限公司 【当前专利权人地址】台湾省新竹市 【引证次数】1.0 【被引证次数】1 【他引次数】1.0 【被他引次数】1.0 【家族引证次数】1.0 【家族被引证次数】1
