【摘要】 本发明公开了一种依一已知电容量测一未知对地电容或是电容值的变化 量的方法与电路，可用来作为侦测人体或是物体靠近该金属导体平板所造成的 电容效应，本发明电路至少由三个开关组件构成，其中一个开关组件控制对金 属导体平板对地的电容充电到某一个电压，另外一个开关组件控制对参考电容 放电，第三个开关组件控制金属导体平板所形成的对地电容，对一个参考电容 充电。 【专利类型】发明申请 【申请人】盛群半导体股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】台湾省新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810215667.8 【申请日】2008-09-12 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101672876A 【公开公告日】2010-03-17 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01R27/26 【发明人】刘温良 【主权项内容】1.一种以一已知电容量测-未知对地电容的方法，其特征在于，至少包含： (a)将该未知电容一端接地，另一端开路，同时，将该已知电容两端短路， 并连接到一运算放大器的负输入端与输出端；其中，该运算放大器的正输入端 连接到一第一参考电压； (b)将该已知电容两端开路，该运算放大器的负输入端连接到该已知电容 的一端，该运算放大器的输出端连接到该已知电容的另一端； (c)将该未知电容另一端连接到一第二参考电压使该未知电容充电至一预 定电压； (d)将该未知电容另一端开路；以及 (e)将该未知电容另一端以一模拟开关导通的方式与该运算放大器的负输 入端连接。 【当前权利人】盛群半导体股份有限公司 【当前专利权人地址】台湾省新竹市 【引证次数】1.0 【被引证次数】7 【他引次数】1.0 【被自引次数】2.0 【被他引次数】5.0 【家族引证次数】1.0 【家族被引证次数】7
