【摘要】 本发明涉及一种硬币双面自动检测装置，属于检测设备技术领域。该装置包括承载硬币的检测面、平行光源和与图像处理系统连接的线阵相机；检测面倾斜安置，倾斜角大于硬币和检测面的摩擦角，表面开有长度大于硬币直径的成像窄缝；成像窄缝处的检测面上方和下方分别安置有正面和背面反光镜，一侧安置平行光源和线阵相机；正面和背面反光镜分别位于将平行光源发射的两路平行光束从上方和下方反射到成像窄缝处，并且将所述成像窄缝处的反射光二次反射到线阵相机的位置。本发明的显著优点是检测效率高；避免了硬币的强制输送，因此减少了损伤；并且硬币运行距离短，因此结构紧凑，体积小巧。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国印钞造币总公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100044 北京市西城区西直门外大街甲143号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】西城区 【申请号】CN200810021698.X 【申请日】2008-08-14 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101339144B 【公开公告日】2010-12-29 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101339144B 【授权公告日】2010-12-29 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N21/898; B07C5/342 【发明人】张强勇; 唐承德; 周超 【主权项内容】一种硬币双面自动检测装置，包括承载硬币的检测面、平行光源和与图像处理系统连接的线阵相机；其特征在于：所述检测面倾斜安置，倾斜角大于硬币和检测面的摩擦角，所述检测面的表面开有长度大于硬币直径的成像窄缝；所述成像窄缝处的检测面上方和下方分别安置有正面和背面反光镜，所述成像窄缝处的一侧安置平行光源和线阵相机；所述正面和背面反光镜分别位于将平行光源发射的两路平行光束从上方和下方反射到成像窄缝处，并且将所述成像窄缝处的反射光二次反射到线阵相机的位置；所述平行光源分成上下两组，分别朝向正面和背面反光镜的反光面；所述正面反光镜和背面反光镜与检测斜面的上、下表面分别成45度夹角，形成“<”形分布。 【当前权利人】中国印钞造币集团有限公司 【当前专利权人地址】北京市西城区西直门外大街甲143号凯旋大厦 【引证次数】2.0 【被引证次数】3 【他引次数】2.0 【被自引次数】3.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】26
