【摘要】 一种光谱标准配制方法，该方法包括以下步骤：(1)以纯碳粉为基体，以碳标中所含金属杂质元素计算，向其中加入相应杂质元素氧化物，配制1wt％的主标准点，然后用纯碳粉依次冲稀得到一系列碳标；(2)将所要分析的样品分别与步骤(1)中的一系列碳标及纯碳粉按重量比1∶1混合，制得一套样品标准和样品空白；将样品标准和样品空白磨成粉末并混合均匀进行摄谱；测量分析线的黑度S，用S-logC绘制工作曲线；用直线拉直法分析低含量元素，用计算法估算较高含量杂质。本发明利用普适标准-碳标，得到一套样品分析用标准，完全适合日常合金样品中杂质的分析，不受样品基体的限制，也无需各种化工工艺提纯光谱基体，该标准稳定性好，分析结果误差小，因而简单、方便，应用范围广泛。 【专利类型】发明申请 【申请人】北京有色金属研究总院 【申请人类型】企业 【申请人地址】100088北京市新街口外大街2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】西城区 【申请号】CN200810247481.0 【申请日】2008-12-31 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101769833A 【公开公告日】2010-07-07 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01N1/28; G01N21/17 【发明人】钱伯仁; 潘元海; 王长华; 墨淑敏 【主权项内容】一种光谱标准配制方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：(1)确定所要待分析的样品中金属杂质，根据所要分析的样品中金属杂质制备碳标，以纯碳粉为基体，以碳标中所含各金属杂质元素计算，向其中加入相应各金属杂质元素氧化物，配制各金属杂质含量为1wt％的主标准点，然后用纯碳粉依次冲稀为0.1～0.0001wt％中的若干个不同的金属杂质含量，得到一系列碳标；(2)将所要分析的样品分别与步骤(1)中的一系列碳标按重量比1∶1混合，制得一系列样品标准。 【当前权利人】北京有色金属研究总院 【当前专利权人地址】北京市新街口外大街2号 【引证次数】1.0 【自引次数】1.0 【家族引证次数】1.0
