【摘要】 一种生产流程设计方法，包括以下步骤：绘制总装工艺技术流程图：在产品树下首先选择生成哪颗整星的总装工艺技术流程图，其中包括一些可并行操作的节点(M3，M4)，还包括一些必须都完成才能继续下一节点的关键节点(M6，M7)；绘制总装工艺路线图：首先选择生成总装工艺的工艺路线图，其中同样包括一些可并行操作的节点(K3，K4)，还包括一些必须都完成才能继续下一节点的关键节点(K6，K7)，并行节点的箭头交汇处用空心或实心圆圈表示，每次新增加一个几何图形，自动生成一个数字序号(K1)；定义图形中节点间的关联关系：建立工艺流程图中M节点与工艺路线图中K节点的对应关系M-K，绘制出总装工艺技术流程之后，为图中的每一图元添加对应的工艺以及对应工艺中的哪些K节点；工艺路线图中添加工序信息K-工序：工序路线图中的每一项节点和工序目录中的每一道工序并不是一一对应的，工艺路线图中的每一节点可对应工序目录中多道工序，但工序目录中的一道工序只属于工序路线图中的一个节点；图形浏览：使用产品树方式来管理这些图；当选中结构树上一个型号时，可以显示出对应的工艺技术流程图；工艺技术流程图的子结点是工艺路线图，工艺路线图中每一图元可以显示对应哪些工序；光标停留在任一节点，节点旁边会显示与之对应的工序号和工序名称的列表，点击其中任意一行，可以实现显示对应工序的配套明细表、工装配套表以及此工序的操作程序；同时可以实现图形到工艺规程的动态更新。。： 【专利类型】发明申请 【申请人】北京卫星环境工程研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100094 北京市海淀区友谊路104号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810187678.X 【申请日】2008-12-29 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101770523A 【公开公告日】2010-07-07 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G06F17/50 【发明人】李曼丽; 张海英; 门昱; 刘玉刚; 孙刚 【主权项内容】一种在PC机上并行实现分子污染直接模拟蒙特卡罗的方法，基于DSMC方法，在整个计算区域采取区域分裂法，将区域按照Z向划分为n个节点，各个节点只处理本节点包含的区域，计算内容完全相同，包括分子的自由运动和与壁面的碰撞、分子由来流进入、分子间的碰撞以及宏观参数的统计；各节点上的网格号保持不变，同时确定分子进入的区域，直接将速度、转动能量、振动能量及分子种类标识传入该节点，节点间的信息交换只存在于相邻节点之间；具体包括以下步骤：(1)在各节点上进行初始化工作，每个节点上的区域信息互不相关；(2)各个节点计算分子的自由运动及与边界面的碰撞，其中与壁面碰撞计算仅在包含壁面的节点上进行，当某分子的网格超出该节点的计算边界，则说明该分子已经离开原来的计算区域而进入新的计算区域，根据分子的网格编号确定出分子进入的新的计算区域；在分子原来所在区域内，将该分子作真空边界处理，而在新的区域内，将该分子作为该区域的N+1，该区域内的分子数目为N个分子处理；此处N为正整数；同时，将该分子离开原节点的分子信息发送至新节点；(3)各节点将所有分子重新排序；(4)各节点计算分子间的碰撞过程；(5)各节点进行宏观量的统计，之后进行本节点下一步取样，即返回(2)；(6)当所有节点，即从节点取样次数达到预设置，各个节点将计算结果回传到主节点上，再由主节点进行输出，结束计算。 【当前权利人】北京卫星环境工程研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区友谊路104号 【统一社会信用代码】121000004000058478 【被引证次数】18 【被自引次数】2.0 【被他引次数】16.0 【家族被引证次数】18
