【摘要】 本发明为一种简易线性广角镜头校正法，包括：摄取含有直线场景的 照像，用直线检测算法提取直线，再提取直线上的图像点；对 同一直线上的图像点进行三点组合；应用广义除式模型，基于每个组合， 建立一个畸变参数的线性方程，计算畸变参数，对畸变参数优化；应用求 解的摄像机镜头的内参数对镜头进行校正。本发明提供的方法完全是线 性的，不需要进行曲线拟和，所以简便、实用。而且所采用的广义除式 模型考虑的畸变参数更全面，从而测量精度能满足通常的需要，具有鲁 棒性好、稳定性高等特点。本发明使得广角镜头校正走向实用化、简便 化。。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国科学院自动化研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100080北京市海淀区中关村东路95号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810222773.9 【申请日】2008-09-24 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101685532A 【公开公告日】2010-03-31 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101685532B 【授权公告日】2011-10-12 【授权公告年份】2011.0 【IPC分类号】G06T5/00; G06T7/00; G06T7/80 【发明人】吴毅红; 胡占义; 戴志军 【主权项内容】1.简易线性广角镜头校正法，包括步骤如下： 步骤S1：摄取含有直线场景的图像，用直线检测算法提取直线，再提取图像直线上的图像点； 步骤S2：对同一直线上的图像点进行三点组组合； 步骤S3：应用广义除式模型，基于每个组合，建立一个畸变参数的线性方程为： 式中m0表示畸变中心的齐次坐标，是以图像中心作为初始值，m1，m2，m3表示直线图像上三个点的齐次坐标，(ui，vi)为mi-m0前两个坐标对应的值； 步骤S4：对上述线性方程进行求解，将计算结果作为畸变参数k1、k2、k3的初始值； 步骤S5：应用最小二乘准则，使用计算结果误差最小的准则对畸变参数k1、k2、k3进行优化； 步骤S6：根据畸变参数k1、k2、k3求解摄像机镜头的内参数为： 利用镜头成像模型与镜头本身有关的内参数，准确计算出内参数后，完成对图像的畸变进行校正。 【当前权利人】中国科学院自动化研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村东路95号 【统一社会信用代码】12100000400010945B 【被引证次数】13 【被他引次数】13.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】13
