【摘要】 本发明公开一种痕量检测加热方法，其中，控制加热汽化样品的温度(T)使之随时间(t)变化，即，使温度从初始加热温度变化到最终加热温度。同时，本发明还公开一种痕量检测加热设备，其中，该痕量检测加热设备包括温度控制器，该温度控制器能够控制加热温度(T)使之随时间(t)变化，即，从初始加热温度变化到最终加热温度。与现有技术相比，本发明采用变化的加热温度来分别汽化样品中具有不同沸点的各种物质，因此，能够保证具有不同沸点的各种物质都能够被有效地汽化，而且不会使低沸点的物质被分解变质。 【专利类型】发明申请 【申请人】同方威视技术股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810240929.6 【申请日】2008-12-24 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101762411A 【公开公告日】2010-06-30 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01N1/28 【发明人】彭华; 林津; 贺文; 张阳天 【主权项内容】一种痕量检测加热方法，其特征在于，控制加热汽化样品的温度(T)使之随时间(t)变化，即，使温度从初始加热温度变化到最终加热温度。 【当前权利人】同方威视技术股份有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 【专利权人类型】其他股份有限公司(非上市) 【统一社会信用代码】91110108710927548B 【被引证次数】3 【被他引次数】3.0 【家族被引证次数】3
