【摘要】 本发明公开一种电子设备使用环境腐蚀性的检测方法，包括：实时检测 一探测部件的腐蚀情况，获得所述探测部件的待比较腐蚀值，所述待比较腐 蚀值用于表征所述探测部件被腐蚀的程度，所述探测部件设置在所述电子设 备的使用环境中，所述探测部件所用材料的耐腐蚀性能小于或等于所述电子 设备中电子元件焊料的耐腐蚀性能；将所述待比较腐蚀值与一预设腐蚀阀值 进行比较，获得一腐蚀程度比较结果；所述腐蚀程度比较结果显示所述待比 较腐蚀值大于或等于所述预设腐蚀阀值时，产生一用于表征所述电子设备使 用环境中发生被腐蚀事件的提示信息。通过实时检测电子设备使用环境中的 被腐蚀事件，便于采取应对措施，防止系统故障。本发明还提供一种相应的 电子设备。 【专利类型】发明申请 【申请人】联想(北京)有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100085北京市海淀区上地信息产业基地创业路6号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810119525.1 【申请日】2008-09-02 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101666737A 【公开公告日】2010-03-10 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101666737B 【授权公告日】2012-06-06 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01N17/00 【发明人】王军 【主权项内容】1、一种电子设备使用环境腐蚀性的检测方法，其特征在于，包括： 实时检测一探测部件的腐蚀情况，获得所述探测部件的待比较腐蚀值， 所述待比较腐蚀值用于表征所述探测部件被腐蚀的程度，所述探测部件设置 在所述电子设备的使用环境中，所述探测部件所用材料的耐腐蚀性能小于或 等于所述电子设备中电子元件焊料的耐腐蚀性能； 将所述待比较腐蚀值与一预设腐蚀阀值进行比较，获得一腐蚀程度比较 结果； 在所述腐蚀程度比较结果显示所述待比较腐蚀值大于或等于所述预设腐 蚀阀值时，产生一用于表征所述电子设备使用环境中发生被腐蚀事件的提示 信息。 【当前权利人】联想(北京)有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区上地信息产业基地创业路6号 【专利权人类型】有限责任公司(台港澳法人独资) 【统一社会信用代码】91110108700000458B 【被引证次数】15 【被他引次数】15.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】16
