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X射线相衬层析成像专利

发布时间:2026-06-15

【摘要】 涉及X射线层析相衬成像系统及方法,包括:X射线装置,向被检测物体发射X射线束;光栅子系统,包括第一和第二吸收光栅,位于X射线束方向上,被检测物体折射的X射线经该第一和第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号;检测单元,接收强度变化的X射线并转换为电信号;和数据处理单元,处理并提取该电信号中折射角信息,并利用折射角信息计算出像素信息;相对移动装置,用于使得所述被检测的物体相对于所述成像系统相对地移动。在所述成像系统与被检测物体的一定相对移动范围内,在多个位置处,所述成像系统对被检测物体进行相衬成像,由此取得被检测物体的多个图像。所述多个图像经过转换变成同一个重建平面上的图像,并由此进行三维图像重建。 【专利类型】发明申请 【申请人】清华大学; 同方威视技术股份有限公司 【申请人类型】企业,学校 【申请人地址】100084 北京市海淀区清华大学 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810224362.3 【申请日】2008-10-17 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101726503A 【公开公告日】2010-06-09 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101726503B 【授权公告日】2012-08-29 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01N23/083; G01N23/04; G01N23/02 【发明人】张丽; 黄志峰; 陈志强; 王振天; 李元景; 赵自然; 肖永顺; 邢宇翔 【主权项内容】一种X射线成像系统,用于对被检测物体进行成像,该系统包括:X射线发射装置,操作用于向被检测物体发射X射线束;光栅子系统,包括第一和第二吸收光栅(A,B),其设置在X射线束的发射方向上,操作用于取得X射线束经过所述物体的折射信息;光栅移动装置,操作用于使得所述第一和第二光栅之一相对于另一个进行步进移动;检测单元,位于被检测物体和所述光栅子系统的后面,操作用于接收经所述经被检测物体折射的X射线,并将其转换为可识别的电信号;以及数据处理子系统,用于处理所述电信号的数据并从中计算出所述X射线束的折射信息,以及并由此计算出被检测物体的像素信息;其中,所述成像系统还包括移动装置,操作用于使得所述被检测的物体相对于所述成像系统进行相对地移动;其中,在所述成像系统与被检测物体的一定相对移动范围内,在多个位置的每个位置处,所述成像系统对被检测物体进行相衬成像,由此取得被检测物体的多个X射线扫描图像;所述多个图像经过转换变成同一个重建平面上的图像,并由此进行三维图像重建。 【当前权利人】清华大学; 同方威视技术股份有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区清华大学; 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 【专利权人类型】公立; 其他股份有限公司(非上市) 【统一社会信用代码】12100000400000624D; 91110108710927548B 【引证次数】2.0 【被引证次数】26 【自引次数】2.0 【被自引次数】9.0 【被他引次数】17.0 【家族引证次数】7.0 【家族被引证次数】26

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