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电磁超声测厚方法专利

发布时间:2026-06-14

【摘要】 一种利用电磁超声检测铁磁性材料厚度的方法,其特征在于,电磁超声换能器内的磁体为U型永磁体,线圈为“回”形PCB双层线圈,线圈置于永磁铁开口处且线圈导线有效部分与偏置磁场方向平行。测厚时,将电磁超声换能器置于被检测体上,线圈内通过高频正弦脉冲电流,根据磁致伸缩效应,被检测体局部伸缩变形产生振动从而激发出超声横波并垂直于被检测体表面向下传播。超声波在被检测体下表面发生反射,反射波被线圈接收。所接收的超声信号经过放大后被采集输入计算机。已知超声波在被检测体传播速度v,传播时间t,则被检测体厚度d为: d = 1 2 × v × t . 本发明实现了对铁磁性材料的厚度检测,具有非接触、无需耦合剂等优点,可用于高温环境或表面粗糙材料的检测。 【专利类型】发明授权 【申请人】清华大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100084 北京市100084-82信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810226405.1 【申请日】2008-11-10 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101398298B 【公开公告日】2010-09-29 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101398298B 【授权公告日】2010-09-29 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01B17/02 【发明人】黄松岭; 赵伟; 叶朝峰; 王珅; 张永生; 郝宽胜 【主权项内容】一种利用电磁超声检测铁磁性材料厚度的方法,其特征在于,依次含有以下步骤:步骤(1),把U型永磁体倒置于被检测铁磁体表面,并按设定的高度提离,使所述U型永磁体下被检测铁磁体的局部产生一个偏置磁场;步骤(2),把双层回形线圈置于所述U型永磁体的两个磁极之间,所述双层回形线圈由彼此绝缘的上下两层线圈构成,所述上下两层线圈的上下两层位置相同且相互串联,所述双层回形线圈的提离高度与所述U型永磁体的提离高度相同,该双层回形线圈的长度方向与所述U型永磁体在被检测铁磁体内产生的偏置磁场方向相同;步骤(3),在所述双层回形线圈内通入某一频率正弦脉冲电流,该正弦脉冲电流在所述被检测铁磁体内产生高频交变磁场并与所述偏置磁场叠加形成交变的合成磁场,在该被检测铁磁体局部产生磁致伸缩变形,激发出超声横波,所述超声横波在该被检测铁磁体内从上向下传播;步骤(4),当该超声横波的反射波到达所述被检测铁磁体上表面时被所述回形双层线圈接收,经过放大电路放大后,利用示波器读取超声发射波与超声反射波之间的时间差t;步骤(5),按下式所述,被检测铁磁体的厚度d:v为超声波在所述被检测铁磁体内的传播速度,为已知值。FSB00000010136400011.tif 【当前权利人】清华大学 【当前专利权人地址】北京市100084-82信箱 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400000624D 【引证次数】7.0 【被引证次数】7 【他引次数】7.0 【被他引次数】7.0 【家族引证次数】7.0 【家族被引证次数】53

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