【摘要】 本发明属于高分辨光学成像技术领域，涉及光瞳滤波合成孔径光学超分辨成像方法。该方法采用光瞳滤波技术和合成孔径光学成像技术，对被测物品进行成像检测，其通过合成孔径成像技术增大成像系统的视场、实现大口径或大工作距测量，通过超分辨光瞳滤波器提高子孔径成像系统的分辨率，最终实现大口径光学系统的超分辨成像检测。该方法可改善等效全口径成像系统的分辨力，减少光学系统子孔径的个数和子孔径间的间距，从而减小系统的体积、降低其复杂性。该方法可用于高分辨力、大视场角、大工作距和大口径光学成像场合，特别适用于空间遥感、对地观测、大工作距显微成像等技术领域。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京理工大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100081 北京市海淀区中关村南大街5号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810115600.7 【申请日】2008-06-25 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101315466B 【公开公告日】2010-07-28 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101315466B 【授权公告日】2010-07-28 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G02B27/58 【发明人】赵维谦; 邱丽荣; 周桃庚; 沙定国 【主权项内容】1.一种光瞳滤波合成孔径光学超分辨成像方法，其特征在于包括下列步骤： 步骤一、将N区超分辨光瞳滤波器置于M个子孔径光学系统组成的光学合成孔径成像系统中； 步骤二、建立具有N区超分辨光瞳滤波器及M个子孔径光学系统的光学合成孔径超分辨成像系统的强度点扩散函数IPSF，其式如下： 式中，M为子孔径数，(xm，ym)和(xn，yn)分别为第m个和第n个子孔径中心位置的坐标，(ξ，η)为像面位置坐标，d为成像系统的像面距离，hm(ξ，η)为第m个子孔径的振幅点扩散函数，为： 其中：r2＝ξ2+η2，am为第m个子孔径的半径，am(j)＝εm(j)am为第m个子孔径第j区的半径，εm(j)为第m个子孔径光瞳滤波器第j区的归一化半径，且εm(0)＝0、εm(N)＝1，tj为第m个子孔径光瞳第j区的振幅透过率， 为第m个子孔径光瞳第j区的相位，J1为一阶贝塞尔函数，λ为光波波长； 步骤三、建立具有N区超分辨光瞳滤波器及M个子孔径光学系统的光学合成孔径超分辨成像系统的传递函数MTF，其式如下： 其中，(fx，fy)为频域x、y向的频率坐标，MTFp(fx，fy)为具有N区超分辨光瞳滤波器的子孔径系统的MTF(fx，fy)，为： MTFd(m(j)，n(k))(fx，fy)为两不等孔径圆的互相关函数，为： 式中 为频域的极坐标频率，d为成像系统的像面距离； 步骤四、优化N区超分辨光瞳滤波器的光学参数和结构参数，以及M个子孔径光学系统的子孔径的数量、口径大小和位置参数，使光学合成孔径超分辨成像系统强度点扩散函数IPSF和调制传递函数MTF满足设计要求，得到所设计的光学合成孔径超分辨成像系统的子孔径数、光学参数和结构参数。 【当前权利人】北京理工大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村南大街5号 【统一社会信用代码】12100000400009127B 【家族被引证次数】10
