【摘要】 本发明公开了一种在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置， 该装置包括：一导温密封腔，用于容置待检测光电器件，具有一光窗口， 用于被检测光电器件的光输出或光输入；一支架，该导温密封腔固定于该 支架的顶端；一托架，设置于该支架的下端，可沿支架上下移动；一加热 或冷却设备，固定于该托架上，随托架一起沿支架上下移动，用于对导温 密封腔进行加热或冷却，实现高低温工作条件。本发明提供的在高低温工 作条件下对光电器件进行测试的装置和方法，解决了在高低温工作条件下 窄脉宽光发射器件和微光光电探测器件参数测试的短线电连接问题，既保 证了规定高低温工作环境温度的准确和稳定，又解决了短连线信号输入输 出要求、结霜短路和结霜挡光等问题，且结构简单，造价低廉，具有很高 的应用价值。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国科学院半导体研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100083北京市海淀区清华东路甲35号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810223612.1 【申请日】2008-09-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101685127A 【公开公告日】2010-03-31 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01R31/00; G01M11/00 【发明人】提刘旺; 杨晓红; 韩勤 【主权项内容】1、一种在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置，其特征在 于，该装置包括： 一导温密封腔，用于容置待检测光电器件，具有一光窗口，用于被检 测光电器件的光输出或光输入； 一支架，该导温密封腔固定于该支架的顶端； 一托架，设置于该支架的下端，可沿支架上下移动； 一加热或冷却设备，固定于该托架上，随托架一起沿支架上下移动， 用于对导温密封腔进行加热或冷却，实现高低温工作条件。 【当前权利人】中国科学院半导体研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区清华东路甲35号 【统一社会信用代码】12100000400012385U 【被引证次数】3 【被他引次数】3.0 【家族被引证次数】3
