【摘要】 本发明公开了一种波长编码的光时域反射测试装置及其测量方法。装置包括光波长编码发生器、光纤分路装置、偏振控制器、光纤耦合器、光电探测器和拍频信号检测装置。光波长编码发生器产生的编码光脉冲信号从光纤分路装置的第一端口输入，分为探测光信号和参考光信号分别从光纤分路装置的第二端口和第三端口输出；探测光信号进入待测光纤链路中，遇到待测光纤链路的断点或损伤点后产生的反射光信号从第二端口返回光纤分路装置并从第四端口输出；反射光信号经过偏振控制器后与参考光信号一起通过光纤耦合器，进入光电探测器进行拍频，拍频低频信号进入拍频信号检测装置进行观测和记录。本发明解决了传统OTDR分辨率与动态范围无法同时提高的问题。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国科学院半导体研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100083 北京市海淀区清华东路甲35号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810240937.0 【申请日】2008-12-24 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101764646A 【公开公告日】2010-06-30 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101764646B 【授权公告日】2013-01-02 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】H04B10/08; H04B10/12; G01M11/00; H04B10/071; H04B10/25 【发明人】祝宁华; 刘宇; 谢亮; 王欣; 袁海庆 【主权项内容】一种波长编码的光时域反射测试装置，其特征在于，该装置由光波长编码发生器(1)、光纤分路装置(2)、偏振控制器(4)、光纤耦合器(5)、光电探测器(6)和拍频信号检测装置(7)构成；其中，光波长编码发生器(1)产生的编码光脉冲信号从光纤分路装置(2)的第一端口输入，分为探测光信号和参考光信号分别从光纤分路装置(2)的第二端口和第三端口输出；探测光信号进入待测光纤链路(3)中，遇到待测光纤链路(3)的断点或损伤点后产生的反射光信号从第二端口返回光纤分路装置(2)并从第四端口输出；反射光信号经过偏振控制器(4)后与参考光信号一起通过光纤耦合器(5)，进入光电探测器(6)进行拍频，拍频低频信号进入拍频信号检测装置(7)进行观测和记录。 【当前权利人】中国科学院半导体研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区清华东路甲35号 【统一社会信用代码】12100000400012385U 【引证次数】2.0 【被引证次数】32 【他引次数】2.0 【被自引次数】7.0 【被他引次数】25.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】32
