【摘要】 本发明公开了一种检测DNA中碱基突变的方法。本发明提供的检测DNA中碱基突变的方法为：首先，合成式(I)的化合物；然后通过式(I)的化合物与单链寡聚核苷酸通过静电相互作用形成复合物后和标记的染料发生能量转移以及DNA的构象变化来检测DNA中的碱基突变。本发明提供的方法克服了现有的检测DNA中碱基突变的方法步骤繁琐、成本较高、灵敏度低和选择性低等缺点，具有简单、经济、灵敏度高且可靠的优点。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院化学研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100080 北京市海淀区中关村北一街2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810103458.4 【申请日】2008-04-07 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101250590B 【公开公告日】2010-07-28 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101250590B 【授权公告日】2010-07-28 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】C12Q1/68; G01N21/64 【发明人】王树; 贺芳 【主权项内容】一种检测DNA中是否存在碱基突变的方法，依次包括以下步骤：1)用荧光素标记单链多核苷酸M；所述M与待测DNA的正常序列完全互补且可以形成G-四聚体结构；2)使荧光素标记的M形成G-四聚体结构；3)将形成G-四聚体结构的M和溴乙锭混合，加入待测DNA和下述式(II)或式(III)的化合物，同时设置加入由待测DNA的正常序列组成的DNA片段和下述式(II)或式(III)的化合物的对照体系，按照如下方法确定待测DNA是否存在突变：10min后，取反应液，在380nm激发下得到激发光谱，若待测DNA反应体系的I600nm/I422nm小于对照体系的I600nm/I422nm，待测DNA存在碱基突变；所述I600nm为发射波长为600nm的发射峰的荧光强度；所述I422nm为发射波长为422nm的发射峰的荧光强度；式(II)；式(III)；式(II)中，n＝2～100；式(III)中，n＝2～100。FSB00000055502200011.tif, FSB00000055502200012.tif。 【当前权利人】中国科学院化学研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村北一街2号 【统一社会信用代码】12100000400012238A 【被引证次数】3 【被自引次数】3.0 【家族被引证次数】9
