【摘要】 基于单片机光栅双读数头的三维激光扫描测量系统属于三维空间信息获取技术领域，它解决了该领域建立三维激光扫描测量系统中的高精度转角测量及控制技术难题。该系统利用成熟的2D激光扫描测量技术，通过应用单片机、光栅和双读数头构建了可以消除或减弱偏心误差影响的转角测量单元；实现了系统中的转台旋转控制、转角测量控制、激光测量控制的协调同步，组建了一个三维激光扫描测量系统。此发明可以进行室内室外的三维空间数据的快速采集，为规划、文物保护、测绘、公安刑侦勘察、交通等部门提供一个进行快速三维空间数据采集的技术设备平台。 【专利类型】发明申请 【申请人】首都师范大学; 北京四维远见信息技术有限公司 【申请人类型】企业,学校 【申请人地址】100037 北京市海淀区西三环北路105号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810180028.2 【申请日】2008-11-20 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101738173A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01B11/26; G01B11/00 【发明人】宫辉力; 叶泽田 【主权项内容】要求对该发明的技术方案进行保护。该发明的技术特征是：利用(1)、(7)、(8)组成系统的转台机械部分；利用(2)、(3)、(4)、(5)组成系统的高精度转角测量部分；利用(9)作为系统的二维激光扫描测量部分；利用(6)进行系统的整体协调控制，从而形成一个基于单片机光栅双读数头的三维激光扫描测量系统的技术方案。 【当前权利人】首都师范大学; 北京四维远见信息技术有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区西三环北路105号; 北京市海淀区北太平路16号 【专利权人类型】公立; 其他有限责任公司 【统一社会信用代码】121100004006874031; 911101081020869172 【被引证次数】11 【被自引次数】4.0 【被他引次数】7.0 【家族被引证次数】11
