【摘要】 本发明实施例公开了一种路径延迟故障模拟方法和装置，首先输入测试电路的电路拓扑结构以及测试电路中的可测路径延迟故障构成的故障集，并输入所述故障集中所有路径延迟故障对应的测试向量构成的测试向量集；根据所述故障集中各路径延迟故障对应的路径，构造选择路径电路；所述选择路径电路为测试电路中具有路径延迟故障的路径的等效电路；根据所述测试向量集中的各测试向量对所述测试电路进行后向故障模拟，并根据模拟得到的路径延迟故障修剪所述选择路径电路。本发明实施例提供的方案，可以在较短的时间内提供精确的路径延迟故障模拟结果，为芯片测试提供了可靠的路径延迟故障模拟方法。 【专利类型】发明授权 【申请人】清华大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100084 北京市100084-82信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810057433.5 【申请日】2008-02-01 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101261308B 【公开公告日】2010-06-09 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101261308B 【授权公告日】2010-06-09 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/28; G01R31/317; G01R31/3185; H01L21/82; G06F17/50 【发明人】向东; 赵阳 【主权项内容】一种路径延迟故障模拟方法，其特征在于，该方法包括：A、输入测试电路的电路拓扑结构以及测试电路中的可测路径延迟故障构成的故障集，并输入所述故障集中所有路径延迟故障对应的测试向量构成的测试向量集；B、根据所述故障集中各路径延迟故障对应的路径，构造选择路径电路；所述选择路径电路为测试电路中具有路径延迟故障的路径的等效电路；C、根据所述测试向量集中的各测试向量对所述测试电路进行后向故障模拟，并根据模拟得到的路径延迟故障修剪所述选择路径电路。 【当前权利人】清华大学 【当前专利权人地址】北京市100084-82信箱 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400000624D 【引证次数】4.0 【他引次数】4.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】11
