【摘要】 为了解决现有电流比较仪校验方法繁琐的问题，本发明提供了一种电流比较仪校验装置 及校验方法。电流比较仪的校验装置主要由取样电阻(Rt)、取样变压器(T1)、参考变压器 (T2)、参考电流互感器(T3)、被测电流比较仪(T4)、比差电流调节器(C1)、角差电流调 节器(C2)、锁相放大器(S)和电流源(Is)组成。采用本发明的技术方案，仅依靠一台参 考电流互感器即可进行一台电流比较仪误差自校准，实现了比例(k∶n)(k为小于n的自然数) 的自耦式电流比较仪自校验。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国航天科技集团公司第五研究院第五一四研究所 【申请人类型】企业 【申请人地址】100086北京市海淀区中关村知春路82号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810101966.9 【申请日】2008-03-14 【申请年份】2008 【公开公告号】CN100582809C 【公开公告日】2010-01-20 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN100582809C 【授权公告日】2010-01-20 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R35/00; G01R35/02 【发明人】袁亚飞; 李亚琭; 金海彬 【主权项内容】1、一种电流比较仪的校验装置，包括取样电阻(Rt)、取样变压器(T1)、参考变压器 (T2)、参考电流互感器(T3)、被测电流比较仪(T4)、比差电流调节器(C1)、角差电流 调节器(C2)、指零仪(S)和电流源(Is)，其特征在于所述的被测电流比较仪(T4)是变 比为1∶n的自耦式电流比较仪，包括缠绕在同一磁芯上的自校绕组和检测绕组，其中自校 绕组为被测绕组，所述自校绕组分为n段子绕组，每一段子绕组的线圈匝数相同并设置有 两个抽头，所述n段子绕组通过抽头串联连接，相邻两段子绕组串接的两个抽头形成一个 端，自校绕组所有端从第一段开始顺序编号，编号从0开始直到n，0端和n端为二次端， 其他任意两端构成不同比例的一次端；所述参考电流互感器(T3)与被测电流比较仪(T4) 的变比相同；电流源(Is)、取样电阻(Rt)、参考变压器(T2)的原边、参考电流互感器 (T3)的原边以及被测电流比较仪(T4)自校绕组一次的滑动接头(C、D)构成一个串联 通路；取样电阻(Rt)与取样变压器(T1)的原边并联，取样变压器(T1)的副边作为比 差电流调节器(C1)和角差电流调节器(C2)的电压输入端；参考变压器(T2)的副边与 指零仪(S)的参考输入端连接；参考电流互感器(T3)副边的两端分别与被测电流比较仪 (T4)自校绕组的二次端连接；被测电流比较仪(T4)的检测绕组与指零仪(S)的检测输 入端连接；所述的比差电流调节器(C1)为可调节输出电流的电路，比差电流调节器(C1) 向被测电流比较仪(T4)自校绕组的二次n端输入比差电流；所述的角差电流调节器(C2) 为可调节输出电流的电路，角差电流调节器(C2)向被测电流比较仪(T4)自校绕组的二 次n端输入角差电流；所述比差电流和角差电流的相位正交；所述n为大于1的自然数。 【当前权利人】中国航天科技集团公司第五研究院第五一四研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村知春路82号 【引证次数】2.0 【他引次数】2.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】14
