【摘要】 本发明公开了一种检测DNA中碱基突变的方法。本发明提供的检测DNA中碱基突变的方法为：首先，合成式(I)的化合物；然后通过式(I)的化合物与单链寡聚核苷酸通过静电相互作用形成复合物后和标记的染料发生能量转移以及DNA的构象变化来检测DNA中的碱基突变。本发明提供的方法克服了现有的检测DNA中碱基突变的方法步骤繁琐、成本较高、灵敏度低和选择性低等缺点，具有简单、经济、灵敏度高且可靠的优点。式(I) 【专利类型】发明申请 【申请人】中国科学院化学研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】100080 北京市海淀区中关村北一街2号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN201010002603.7 【申请日】2008-04-07 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101851670A 【公开公告日】2010-10-06 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】C12Q1/68; G01N21/64 【发明人】王树; 贺芳 【主权项内容】一种检测DNA中是否存在碱基突变的方法，依次包括以下步骤：1)制备单链多核苷酸D1，所述D1与待测DNA的正常序列完全互补；2)制备单链多核苷酸D2，用荧光素标记序列D2；所述D2能形成发卡DNA，茎环与D1完全互补，茎干与D1至少有6nt不互补，且茎干区含有限制性内切酶的酶切位点；3)将D1和D2混合，再加入待测DNA，然后加入与D2茎干区的酶切位点相应的限制性内切酶，再加入下述式(I)的化合物；同时设置用待测DNA的正常序列组成的DNA片段取代待测DNA的体系作为对照；按照如下方法确定待测DNA是否存在突变：若待测DNA反应体系的I424nm/I527nm小于等于对照体系的2.57±0.05，待测DNA存在碱基突变；若待测DNA反应体系的I424nm/I527nm等于对照体系的3.8±0.11，待测DNA不存在碱基突变；所述I424nm为发射波长为424nm的发射峰的荧光强度；所述I527nm为发射波长为527nm的发射峰的荧光强度；式(I)；式(I)中，m＝1～10，n＝2～100；R1，R2，R3，R4＝CXH2X+1或-O(CXH2X+1)，x＝1～10；R5＝CXH2X+1，x＝1～3；R6＝Br、Cl、I、CF3COO或CH3COO。F2010100026037C00011.tif 【当前权利人】中国科学院化学研究所 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村北一街2号 【统一社会信用代码】12100000400012238A 【引证次数】2.0 【自引次数】2.0 【家族引证次数】2.0
