【摘要】 本发明提供一种自发荧光成像方法及系统，该方法包括以下步骤：从不同角度获取成像目标物体表面的光信号；分别修正从不同角度获取的所述光信号，获得光修正数据；存储所述数据获取单元获取的所述光信号的数据、所述预处理单元修正后的光修正数据；根据所述光修正数据成像所述自发荧光的像。本发明综合了当前主流的多角度非接触式测量技术和有限元成像方法，发展了后验的边界信号修正策略，有利于提高光源成像的精度和稳定性，并且本发明对自发荧光断层成像的发展具有重要的意义和应用价值。 ： 【专利类型】发明授权 【申请人】北京工业大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100124 北京市朝阳区平乐园100号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】朝阳区 【申请号】CN200810116813.1 【申请日】2008-07-18 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101324529B 【公开公告日】2010-11-24 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101324529B 【授权公告日】2010-11-24 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G06T5/00 【发明人】王普; 孙粒; 尹金玉; 李亚芬 【主权项内容】一种自发荧光成像方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： 1)从不同角度获取成像目标物体表面的光信号，所述的光信号是单谱、 混合谱或多谱段上的光的信号； 2)分别修正从不同角度获取的所述光信号，获得光修正数据； 所述的修正从不同角度获取的光信号，具体包括以下步骤： i)生成目标物体表面的光信号分布； ii)根据在相邻单角度测量表面的重叠域上的相邻两次测量得到的光信 号能量比得到修正函数； iii)以第一次单角度测量得到的光信号分布为标准，用所述修正函数修 正后续的单角度测量边界信号能量； iv)将修正后的多次单角度测量边界信号能量值重组为测量边界信号；所述的修正函数为：fcor＝ε1-2…ε(m-1)-m所述的用修正函数修正后续的单角度测量边界信号能量，具体为： 其中：上述中：ε(m-1)-m表示在重叠域 上第m-1个角度和第m个角度的 信号能量比，Φm(x，λ)表示在第m个角度探测得到的位于重叠域 上x处 波长为λ时的光强密度，Φm-1(x，λ)表示在第m-1个角度探测得到的位于重叠 域 上x处波长为λ时的光强密度；Φmbcor为第m个角度测量得到的并经 过修正后的边界信号，Φmb为第m个角度测量得到的边界信号；3)根据所述光修正数据成像所述自发荧光的像，具体包括以下步骤： i)在成像目标区域的剖分网格上，利用有限元理论把单谱段、混合谱 段或多谱段上的扩散方程离散为线性方程； ii)基于先验可行光源区域，在单谱、混合谱或多谱段上建立未知光源 变量与测量边界信号之间的线性关系； iii)利用正则理论确立优化的目标函数，然后利用改进牛顿算法对目标 函数进行优化，以获得成像结果。 FA20190700200810116813101C00011.tif, FA20190700200810116813101C00012.tif, FA20190700200810116813101C00013.tif, FA20190700200810116813101C00014.tif, FA20190700200810116813101C00015.tif 【当前权利人】北京工业大学 【当前专利权人地址】北京市朝阳区平乐园100号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12110000400687411U 【引证次数】2.0 【被引证次数】2 【他引次数】2.0 【被他引次数】2.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】7
