【摘要】 本发明公开了一种测试仪表控制系统，该系统包括主控制模块、测试处理模块、仪表控制模块和数据库，主控制模块用于根据测试模板调用相应的测试处理模块，测试处理模块向仪表控制模块发送测试消息，仪表控制模块根据测试消息调用相应的仪表进行测试，数据库用于存储测试模板、仪表信息、控制消息。本发明还公开了相应方法，根据用户选择的测试模板、仪表参数，激活相应仪表，测试待测对象。本发明还公开了一种仪表控制装置，能够与用户交互，对仪表进行配置，检测仪表状态。本发明具有简单方便、兼容性强的优点。。： 【专利类型】发明授权 【申请人】中兴通讯股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810094692.5 【申请日】2008-05-07 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101286050B 【公开公告日】2010-12-29 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101286050B 【授权公告日】2010-12-29 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G05B19/04; G01R31/3177; G01R31/00 【发明人】崔文会 【主权项内容】一种测试仪表控制系统，其特征在于，该系统包括主控制模块，仪表控制模块，至少一个测试处理模块，和用于存储测试模板、仪表信息、测试消息的数据库，所述主控制模块分别与所述测试处理模块、仪表控制模块和数据库连接，所述仪表控制模块分别与数据库、测试处理模块相连；其中，所述主控制模块从数据库中读取用户选择的测试模板，将解析出的仪表信息、接收的用户设置的仪表参数发送给仪表控制模块；所述仪表控制模块根据所述仪表信息，激活并根据所述仪表参数配置相应仪表，并将仪表配置结果反馈给所述主控制模块；所述主控制模块根据仪表配置结果，向相应的测试处理模块发送测试命令；所述测试处理模块根据所述测试命令，向所述仪表控制模块发送测试消息；所述仪表控制模块根据所述测试消息，调用相应仪表测试待测对象，并将测试结果经所述测试处理模块反馈给所述主控制模块。。 【当前权利人】佟芳 【专利权人类型】上市股份有限公司 【统一社会信用代码】9144030027939873X7 【被引证次数】1 【被他引次数】1.0 【家族被引证次数】9
