【摘要】 本发明公开了一种紫外线强度荧光差分检测方法与装置，本发明采用两个可见光探测器，其中第一可见光探测器的受光表面涂有一层透明均匀的紫外荧光材料薄层，所述紫外荧光材料在紫外线的照射下发射出可见光波段的荧光，第一可见光探测器产生的电信号反映紫外线产生的荧光与可见光的强度之和，第二可见光探测器产生的电信号反映可见光强度，两路电信号经差分放大后得到反映紫外线强度的电信号，该电信号经AD转换后由单片机换算成紫外线强度。本发明利用紫外荧光和差分原理，能自动消除本底光的影响，测量紫外光精确度高。 【专利类型】发明授权 【申请人】华南师范大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】510630 广东省广州市天河区石牌中山大道西55号 【申请人地区】中国 【申请人城市】广州市 【申请人区县】天河区 【申请号】CN200810218432.4 【申请日】2008-10-17 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101424569B 【公开公告日】2010-12-01 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101424569B 【授权公告日】2010-12-01 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01J1/18 【发明人】黄佐华; 郑永驹; 陈宏林; 邓晓敏; 许曼宜; 李灶华 【主权项内容】一种紫外线强度检测装置，其特征在于包括两个可见光探测器、平衡电位器、差分放大电路、AD转换电路、微处理器以及显示屏，其中第一可见光探测器的受光表面涂有一层透明均匀的紫外荧光材料薄层，所述紫外荧光材料在紫外线的照射下发射出可见光波段的荧光，第一可见光探测器的负极、第二可见光探测器的负极与平衡电位器的调节端相连，平衡电位器的另外两端分别与第一可见光探测器的正极、第二可见光探测器的正极相连，第一可见光探测器的正极和第二可见光探测器的正极与差分放大电路相连，差分放大电路与AD转换电路相连，AD转换电路、显示屏均与单片机相连，第一可见光探测器产生的电信号反映紫外线产生的荧光与可见光的强度之和，第二可见光探测器产生的电信号反映可见光强度，两路电信号经差分放大后得到反映紫外线强度的电信号，该电信号经AD转换后由单片机换算成紫外线强度，第一可见光探测器的受光表面周围的环形区域涂有黑色油墨，其厚度比紫外荧光材料薄层的厚度大，第一可见光探测器和第二可见光探测器是同种材料的光电探测器。 【当前权利人】华南师范大学 【当前专利权人地址】广东省广州市天河区石牌中山大道西55号 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】124400004558589190 【家族被引证次数】13
