【摘要】 本发明公开了一种芯片测试装置及其测试方法，该芯片测试装置包含指令 产生模块、传送/接收模块及控制模块。在指令产生模块产生一第一测试指令后， 传送/接收模块将该第一测试指令传送至射频识别标签芯片并自射频识别标签 芯片接收一目标测试结果。控制模块用以判断该目标测试结果是否符合一参考 测试结果。若控制模块的判断结果为否，控制模块控制指令产生模块产生一第 二测试指令以重新测试射频识别标签芯片。本发明其可达到自动化随机重复测 试RFID标签芯片的功效，除省去使用者编辑测试指令所花费的时间与精力外， 还可以提升RFID标签芯片的测试指令范围的涵盖率。 【专利类型】发明申请 【申请人】晨星软件研发(深圳)有限公司; 晨星半导体股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518057广东省深圳市高新区科技南十路国际技术创新研究院C座4楼 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810148802.1 【申请日】2008-09-12 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101672878A 【公开公告日】2010-03-17 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101672878B 【授权公告日】2013-07-03 【授权公告年份】2013.0 【IPC分类号】G01R31/00; G06K7/00 【发明人】黄志华; 张至岩 【主权项内容】1、一种芯片测试装置，用以测试一射频识别标签芯片，其特征在于，它包 含： 一指令产生模块，用以产生一第一测试指令； 一传送/接收模块，耦接至该指令产生模块，用以将该第一测试指令传送至 该射频识别标签芯片并自该射频识别标签芯片接收一目标测试结果；以及 一控制模块，耦接至该传送/接收模块及该指令产生模块，用以判断该目标 测试结果是否符合一参考测试结果，若判断结果为否，该控制模块控制该指令 产生模块产生一第二测试指令以重新测试该射频识别标签芯片。 （，） 【当前权利人】联发科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市新竹科学园区笃行一路一号 【专利权人类型】有限责任公司(外国法人独资) 【统一社会信用代码】914403007504942063 【被引证次数】26 【被他引次数】26.0 【家族引证次数】7.0 【家族被引证次数】27
