【摘要】 本发明公开了一种辐射性能测试方法和系统，该方法包括：构造笔记本电脑放置方式以及笔记本电脑的无线数据终端的测试模型；以无线数据终端的天线为原点构建球面坐标系，并在球面坐标系中选择测试点；将测试模型放置在全暗波室环境下，使无线数据终端在数据模式下工作，利用测量天线在球面坐标系中采集测试点处的总辐射功率，并由此获得无线数据终端的总辐射功率。通过上述技术方案，能够真实反映真笔记本电脑无线数据终端在数据模式下中笔记本各原件耦合对无线数据终端的空间辐射性能影响，具有高的真实性，并且易于使用。 【专利类型】发明申请 【申请人】中兴通讯股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518057广东省深圳市南山区科技南路55号 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810187386.6 【申请日】2008-12-30 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101769967A 【公开公告日】2010-07-07 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G01R29/08; H04B17/00 【发明人】禹忠; 彭宏利 【主权项内容】一种辐射性能测试方法，其特征在于，包括：构造笔记本电脑放置方式以及所述笔记本电脑的无线数据终端的测试模型；以所述无线数据终端的天线为原点构建球面坐标系，并在所述球面坐标系中选择测试点；将所述测试模型放置在全暗波室环境下，使所述无线数据终端在数据模式下工作，利用测量天线在所述球面坐标系中采集所述测试点处的总辐射功率，并由此获得所述无线数据终端的总辐射功率。 -官网 【当前权利人】中兴通讯股份有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区科技南路55号 【专利权人类型】上市股份有限公司 【统一社会信用代码】9144030027939873X7 【被引证次数】27 【被自引次数】4.0 【被他引次数】23.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】32
