【摘要】 本发明公开了一种平面显示器面板坏点检测方法，待测面板具有相互垂直 的复数行电极与复数列电极，每一行电极与列电极对应处形成有一个显示次晶 胞，该检测方法步骤包含：a)自面板行、列共同接点输入对应至少一个坏点的 预定图案数据，致能面板的部份复数显示次晶胞；b)将一组影像撷取模块自使 其影像撷取范围包含面板的角落的启始位置，移动至使其影像撷取范围包含坏 点的检测位置；及c)计算影像撷取模块所获得的影像数据，获得坏点相对于启 始位置角落的相对位置。本发明还公开了一种能有效实施上述检测方法的检测 机台。 【专利类型】发明申请 【申请人】中茂电子(深圳)有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】518054广东省深圳市南山区登良路南油天安工业村4号厂房8F 【申请人地区】中国 【申请人城市】深圳市 【申请人区县】南山区 【申请号】CN200810043575.6 【申请日】2008-07-01 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101620815A 【公开公告日】2010-01-06 【公开公告年份】2010 【IPC分类号】G09G3/00; G01R31/00 【发明人】陶坚强; 游仁杰; 杨龙潭; 黄柏嶂 【主权项内容】1.一种平面显示器面板坏点检测方法，该面板具有复数行电极及复数垂直 该等行电极的列电极，各相邻行分别对应相异显示色彩，且该等对应相同显示 色彩的行电极中，至少部分被电气连结至一个行共同接点，使得该等行电极被 复数行共同接点所致能，该等列电极被电气连接至至少一个列共同接点，使得 每一行电极与列电极对应处形成一个显示次晶胞，该等显示次晶胞包含至少一 个坏点，该检测方法包含下列步骤： a)自该等行、列共同接点输入一个对应该坏点的预定图案数据，致能该面 板的部份该等显示次晶胞； b)将一组影像撷取模块自一个使其影像撷取范围包含该面板的一个角落 的启始位置，移动至使其影像撷取范围包含该坏点的检测位置； c)计算影像撷取模块所获得的影像数据，获得坏点相对于启始位置角落的 相对位置。 【当前权利人】中茂电子(深圳)有限公司 【当前专利权人地址】广东省深圳市南山区登良路南油天安工业村4号厂房8F 【专利权人类型】有限责任公司(台港澳法人独资) 【统一社会信用代码】91440300618932715B 【引证次数】1.0 【被引证次数】3 【他引次数】1.0 【被他引次数】3.0 【家族引证次数】1.0 【家族被引证次数】3
