【摘要】 一种新世代周边连接接口的测试系统及其测试方法，用于测试具有新世代周边连接接口(Peripheral Component Interconnect Express，PCIE)的待测设备。首先，将交换器电性连接于测试主机与待测设备之间，在交换器中包括有缓存器与校验单元；将缓存器设定为回路状态；设定交换器的多笔测试参数；由测试主机发送测试信号至交换器，命令交换器对待测设备的PCIE进行测试；交换器与测试主机直接建立物理层的链接，并对测试主机传送测试数据，待测设备的每一次的测试结果至校验单元；由校验单元统计所有的测试结果后再回复至测试主机。 【专利类型】发明申请 【申请人】英业达集团(天津)电子技术有限公司; 英业达股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】300193 天津市南开区西湖道38号 【申请人地区】中国 【申请人城市】天津市 【申请人区县】南开区 【申请号】CN200810171159.4 【申请日】2008-10-22 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101727375A 【公开公告日】2010-06-09 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101727375B 【授权公告日】2012-11-07 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G06F11/267 【发明人】陈青; 金志仁; 陈玄同 【主权项内容】一种新世代周边连接接口的测试系统，用于测试具有新世代周边连接接口的待测设备，其特征在于，该测试系统包括有：一交换器，包括有一缓存器与一校验单元；一待测设备，该待测设备电性连接该交换器；以及一测试主机，其电性连接于该交换器，该校验单元与该测试主机直接建立物理层的链接，用以对该测试主机传送测试数据，并将该测试主机传回的数据储存于该缓存器，该测试主机还包括有一处理单元、一测试程序与一储存单元，该储存单元储存该测试程序，该处理单元用以执行该测试程序，该测试程序包括以下步骤：将该交换器与该待测设备的通讯设定为物理层链接的回路状态，将该交换器被设定为主控模式，且该待测设备设定为从属模式；设定该交换器的多笔测试参数；由该待测设备发送一测试信号至该交换器，命令该交换器对该待测设备进行测试；该交换器对该待测设备传送测试数据，并将该待测设备传回的数据储存于该缓存器；以及由该校验单元统计测试结果后回复该测试主机。 【当前权利人】安庆海诚电子科技有限公司 【当前专利权人地址】安徽省安庆市太湖县晋熙镇观音村方屋组 【专利权人类型】港、澳、台 【统一社会信用代码】911201046005288297 【被引证次数】6 【被自引次数】2.0 【被他引次数】4.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】6
