【摘要】 本发明涉及一种利用频域光学相干层析技术的生物组织折射率测量方法，利用频域OCT系统进行测量，在放置生物组织样品前后进行两次干涉光谱测量，获得放置样品前样品臂参考镜的位置和放置样品后的样品前后表面位置，经过计算得出样品的折射率。所述频域OCT系统的样品臂放置一样品臂平面镜，放置样品时样品紧贴此平面镜放置。由于频域OCT技术不需要参考臂进行轴向扫描，使得频域OCT下进行折射率测量的速度比时域OCT下的测量速度更快，大大缩短了样品在空气中的暴露时间，减少了生物组织因水份损失带来的折射率变化，提高了测量的准确性。 【专利类型】发明授权 【申请人】南开大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】300071 天津市卫津路94号(南开大学物理科学学院5教314叶青) 【申请人地区】中国 【申请人城市】天津市 【申请人区县】南开区 【申请号】CN200810053555.7 【申请日】2008-06-18 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101290291B 【公开公告日】2010-06-23 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101290291B 【授权公告日】2010-06-23 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N21/45 【发明人】叶青; 周文远; 田建国 【主权项内容】一种生物组织折射率的测量方法，其特征在于，利用频域OCT系统进行测量，首先，保证样品臂的光程大于参考臂的光程，且使光程差大于光在样品中的光程；然后，进行差分干涉光谱测量，经傅立叶变换后得到样品臂平面镜的位置，再放置样品，使样品的后表面紧贴样品臂平面镜，不移动参考臂参考镜，再进行一次差分光谱测量，经傅立叶变换后得到样品的前后表面位置；最后，利用计算公式：n＝(N3-N2)/(N1-N2)，得到样品的折射率，其中n为样品折射率，N1为样品臂平面镜位置，N2为样品前表面位置，N3为样品后表面位置。 【当前权利人】奥为(天津)环保科技有限公司 【当前专利权人地址】天津市津南区北闸口镇高营路8号天乐创新产业园内 【统一社会信用代码】121000004013593721 【家族被引证次数】6
