【摘要】 一种用于测量高反射率的装置，其中：光电探测器将光信号转换后的电信号由数据采集卡记录并输给计算机处理及存储，计算机同时控制数据采集卡的采集参数；其特征在于：入射腔镜和出射腔镜与平面高反镜共同构成稳定的初始衰荡腔，入射腔镜和平面高反镜构成初始衰荡腔的入射臂，出射腔镜和平面高反镜构成初始衰荡腔的出射臂；测试时，光源发出的光束经匹配透镜进入衰荡腔，会聚透镜和光电探测器置于平面高反镜后探测光腔输出信号，由光腔衰荡技术测得初始腔衰荡时间τ1，在出射臂插入待测平面镜，调节出射腔镜，形成稳定的测试腔，同理可测得测试腔衰荡时间τ2；计算可得待测平面镜反射率；本发明所改进的装置稳定性好、测量精度高、容易调节，适合开发高反射率测量仪器。 【专利类型】发明授权 【申请人】中国科学院光电技术研究所 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】610209 四川省双流350信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】成都市 【申请人区县】双流区 【申请号】CN200810055653.4 【申请日】2008-01-04 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101261181B 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101261181B 【授权公告日】2010-06-16 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01M11/02; G01N21/55; G01N21/552 【发明人】李斌成; 龚元; 韩艳玲 【主权项内容】一种用于测量高反射率的装置，其中：光电探测器(7)将光信号转换成电信号，由数据采集卡(8)记录并输入计算机(9)处理及存储，计算机(9)控制数据采集卡(8)的采样率、采集数据点长度以及采集电压最大幅值；其特征在于：入射腔镜(3)和出射腔镜(5)与平面高反镜(4)共同构成稳定的光学谐振腔作为初始衰荡光腔，入射腔镜(3)和平面高反镜(4)位于同一直线上，构成初始衰荡光腔的入射臂，出射腔镜(5)和平面高反镜(4)位于另一条直线上，构成初始衰荡光腔的出射臂，总腔长为L，入射臂和出射臂之间的夹角为θ；测试时，由光源(1)发出的光束经匹配透镜(2)进入上述初始衰荡光腔，会聚透镜(6)和光电探测器(7)置于平面高反镜(4)后搜集和探测出射的光束；由光腔衰荡技术探测并通过计算机(9)拟合得到初始衰荡光腔衰荡时间τ1；然后在出射臂插入待测平面高反镜(14)，调节出射腔镜(5)，形成稳定的测试腔，再由光腔衰荡技术探测并通过计算机(9)拟合得到测试腔衰荡时间τ2；通过待测平面高反镜的反射率公式计算，便可得到待测平面高反镜的反射率。 ： 【当前权利人】中国科学院光电技术研究所 【当前专利权人地址】四川省双流350信箱 【统一社会信用代码】12100000450811820A 【引证次数】5.0 【被引证次数】1 【自引次数】4.0 【他引次数】1.0 【被自引次数】1.0 【家族引证次数】5.0 【家族被引证次数】25
