【摘要】 一种相位校正电路包含有至少一组信号处理模块、至少2个相位校正模块、一相位检测模块以及一滤波模块。第1相位校正模块的输出端耦接于第1组信号处理模块的输入端，第2相位校正模块的输入端耦接于该第1组信号处理模块的输出端，该第1组信号处理模块于输入端接收该第1相位校正模块的校正后信号并于输出端产生该第1组信号处理模块的处理后信号。该相位检测模块依据第M相位校正模块的校正后信号产生相位误差信号。该滤波模块用来依据该相位误差信号以产生至少一第1相位校正信号以及一第2相位校正信号。 【专利类型】发明申请 【申请人】瑞昱半导体股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹科学园区 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810171065.7 【申请日】2008-11-06 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101741789A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101741789B 【授权公告日】2012-08-29 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】H04L27/18; H04B1/06 【发明人】李宜霖; 黄正壹 【主权项内容】一种相位校正电路，包含有：至少一组信号处理模块，每一组信号处理模块包含至少一信号处理模块；至少2个相位校正模块，其中第1相位校正模块的输出端耦接于第1组信号处理模块的输入端，第2相位校正模块的输入端耦接于该第1组信号处理模块的输出端，该第1组信号处理模块于输入端接收该第1相位校正模块的校正后信号并于输出端产生该第1组信号处理模块的处理后信号；相位检测模块，用来依据第M相位校正模块的校正后信号产生相位误差信号，其中M为大于等于2的正整数；以及滤波模块，耦接于该相位检测模块，用来依据该相位误差信号以产生至少一第1相位校正信号以及一第2相位校正信号；其中该第1相位校正模块依据该第1相位校正信号以产生该第1相位校正模块的校正后信号，而该第2相位校正模块依据该第2相位校正信号以产生该第2相位校正模块的校正后信号。 【当前权利人】瑞昱半导体股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹科学园区 【被引证次数】2 【被他引次数】2.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】2
