【摘要】 本发明提供一种电子元件翻转测试装置及其测试方法。此电子元件翻转测试装置包含机座、枢接于此机座的载台、第一翻转机构、承载机构、以及第二翻转机构。第一翻转机构固接于上述机座，并连接至上述载台，用以提供上述载台进行第一旋向的运动，第二翻转机构则固接于上述载台，且连接至上述承载机构，用以提供上述承载机构相对于上述载台进行第二旋向的运动。此外本发明可设定不同的翻转角度与翻转速度，以进行电子元件的测试。 【专利类型】发明申请 【申请人】京元电子股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810190330.6 【申请日】2008-12-31 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101769942A 【公开公告日】2010-07-07 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101769942B 【授权公告日】2012-08-29 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01R1/00; G01R31/00 【发明人】黄钧鸿 【主权项内容】一种电子元件翻转测试装置，主要包含：一机座；一载台，枢接于该机座；一承载机构，枢接于该载台，具有一测试承座与一盖体，该测试承座用以承载一电子元件，该盖体，用以固持已承载的电子元件；其特征在于：该电子元件翻转测试装置进一步包含一第一翻转机构以及一第二翻转机构，其中，该第一翻转机构固接于该机座，且连接至该载台，用以提供该载台进行第一旋向的运动，而该第二翻转机构固接于该载台，且连接至该承载机构，用以提供该承载机构相对于该载台进行第二旋向的运动。 【当前权利人】京元电子股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市 【引证次数】1.0 【被引证次数】4 【他引次数】1.0 【被他引次数】4.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】4
