【摘要】 本发明是有关一种主动元件阵列基板及其检测方法。此主动元件阵列基板具有显示区与周边电路区，此主动元件阵列基板包括多个像素单元、多条信号导线、多个检测垫以及第一介电层。像素单元是以阵列的方式排列于显示区内，信号导线与检测垫则是配置于周边电路区内，且第一介电层是覆盖住检测垫。此主动元件阵列基板的检测方法则是先移除部分的第一介电层，以暴露出欲与检测工具电性接触的检测垫。也就是说，在进行检测之前，检测垫是与外界电性绝缘，因而能够避免静电荷由检测垫经信号导线对像素单元造成静电击伤，以提高主动元件阵列基板的电路稳定性。 ： 【专利类型】发明申请 【申请人】元太科技工业股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810171194.6 【申请日】2008-10-22 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101728397A 【公开公告日】2010-06-09 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101728397B 【授权公告日】2012-02-15 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】H01L27/12; H01L23/544; H01L21/66 【发明人】张恒豪; 刘全丰 【主权项内容】一种主动元件阵列基板，具有一显示区与一周边电路区，其特征在于该主动元件阵列基板包括：多个像素单元，阵列排列于该显示区内；多条信号导线，配置于该周边电路区内，并电性连接至所述像素单元；多个检测垫，配置于该周边电路区内；以及一第一介电层，覆盖所述检测垫。 【当前权利人】元太科技工业股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾新竹市 【被引证次数】7 【被他引次数】7.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】7
