【摘要】 本发明提供一种存储器的测试方法，针对存储器，利用控制器的运算能力，在接到测试电脑所发出的测试指令以及程序代码后，产生乱数数据或依据算法产生特定格式的测试数据，直接对闪存进行数据的写入、读出以及比对的操作，并将测试结果传送回测试电脑，通过大幅减少测试电脑对存储器的数据输入及输出的负载，加快存储器的测试速度。 【专利类型】发明申请 【申请人】奇岩电子股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810176010.5 【申请日】2008-11-06 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101740137A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101740137B 【授权公告日】2012-08-22 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G11C29/56 【发明人】陈桮棬; 詹立翔; 黄世铠 【主权项内容】一种存储器的测试方法，用以测试一存储器的数据写入与数据读取的功能，其特征在于，该存储器的测试方法包括以下步骤：步骤A：一测试电脑准备一程序代码，该程序代码包含产生一测试数据的一算法、一数据比对操作以及一测试结果的记录操作，接着进入步骤B；步骤B：该测试电脑传送该程序代码至一控制器，该控制器包括一接口电路、一微处理器、一随机存取存储器、一只读存储器以及一逻辑电路，其中该接口电路接收该程序代码与该设定数据并传送给该只读存储器，该逻辑电路处理该存储器的数据存取，接着进入步骤C；步骤C：该控制器的该逻辑电路抹除该存储器的一目标区块，进入步骤D；步骤D：该控制器的该逻辑电路写入该测试数据至该存储器的该目标区块内，进入步骤E；步骤E：该控制器的该逻辑电路读取该存储器的该目标区块所储存的一储存数据，进入步骤F；步骤F：该控制器的该逻辑电路比对该测试数据与所读取的该储存数据，进入步骤G；步骤G：该控制器记录一比对结果，进入步骤H；步骤H：如果未完成存储器的所有区块的测试，则回到步骤C，如果完成存储器的所有区块的测试，则进入步骤I；步骤I：产生一存储器测试文件并传送至该测试电脑，进入步骤J；以及步骤J：结束操作。。 【当前权利人】旺玖科技股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾台北市南港区南港路三段48号7楼 【被引证次数】9 【被他引次数】9.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】9
