【摘要】 本发明提供一种雷射测距装置及其控制方法，该雷射测距装置包括：发射组件，第一及第二液晶显示模块、接收组件、聚焦透镜以及控制单元，其中在测量时，该发射组件发射测量光，并同时控制该第一液晶显示模块为不透光状态及第二液晶显示模块为透光状态以使该接收组件接收参考光，再控制第一液晶显示模块为透光状态及第二液晶显示模块为不透光状态以接收目标物的反射光、当该反射光大于一预定值时，调整第一液晶显示模块的透光度至该反射光低于该预定值时，由该参考光与该反射光的相位差，计算距离值。 【专利类型】发明申请 【申请人】亚洲光学股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾台中县潭子乡台中加工出口区南二路22-3号 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810184825.8 【申请日】2008-11-27 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101738616A 【公开公告日】2010-06-16 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101738616B 【授权公告日】2012-07-18 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01S17/36; G01S7/48; G01S17/00 【发明人】罗印龙; 蔡宗岳 【主权项内容】一种雷射测距装置，用以测量目标物的距离，其特征在于，包括：发射组件，用以产生测量光；第一液晶显示模块，包括透光状态及不透光状态；第二液晶显示模块，包括透光状态及不透光状态；接收组件，用以接收该测量光经过该第二液晶显示模块的参考光与由该目标物反射该测量光的反射光，并且依据接收的这些光的强度大小，对应输出参考光电信号及反射光电信号；以及控制单元，用以控制该第一液晶显示模块为该不透光状态及该第二液晶显示模块为该透光状态、该接收组件接收该参考光电信号，再控制该第一液晶显示模块为该透光状态及该第二液晶显示模块为该不透光状态、以及比较该反射光电信号与一预定值，并且当该反射光电信号高于该预定值时，调降该第一液晶显示模块的透光度。 【当前权利人】亚洲光学股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾台中县潭子乡台中加工出口区南二路22-3号 【引证次数】1.0 【被引证次数】7 【自引次数】1.0 【被他引次数】7.0 【家族引证次数】7.0 【家族被引证次数】7
