【摘要】 本发明公开了一种检测射频馈线损耗的方法和装置，主要应用于移 动通信领域。本发明的检测方法，在射频拉远单元RRU中，将发射通道 切换到检测通道，对发射通道的输出功率进行检测；在RRU中，将发射 通道切换到校准通道，对发射通道进行校准；根据检测结果和校准结果， 计算RRU和天线间的射频馈线损耗。本发明公开的检测射频馈线损耗的 方法和装置，通过射频开关将发射通道输出功率的检测和发射通道的校 准有机的结合起来，有效提高了射频馈线损耗检测的精度。 【专利类型】发明申请 【申请人】中国移动通信集团公司; 普天信息技术研究院有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100032北京市西城区金融大街29号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】西城区 【申请号】CN200810222238.3 【申请日】2008-09-12 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101674141A 【公开公告日】2010-03-17 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101674141B 【授权公告日】2012-12-12 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】H04B17/00; H04W24/00; H04B17/309 【发明人】王东; 程广辉; 王西昌; 曹雪 【主权项内容】1、一种检测射频馈线损耗的方法，其特征在于，包括下列步骤： 在射频拉远单元RRU中，将发射通道切换到检测通道，对所述发射 通道的输出功率进行检测； 在RRU中，将发射通道切换到校准通道，对所述发射通道进行校准； 根据所述检测结果和校准结果，计算所述RRU和天线间的射频馈线 损耗。 【当前权利人】中国移动通信集团公司; 普天信息技术研究院有限公司 【当前专利权人地址】北京市西城区金融大街29号; 北京市海淀区海淀北二街6号 【专利权人类型】国有企业; 有限责任公司 【统一社会信用代码】911100007109250324; 91110108710929105M 【被引证次数】15 【被他引次数】15.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】15
