【摘要】 本发明提供一种面板测试电路结构。面板测试电路结构包含多条传输线 及一显示模块，传输线电性连接显示模块，每一传输线包含一输入部、一测 试部及一输出部，测试部的两端分别电性连结输入部以及输出部，输出部的 一端电性连结于显示模块，而面板测试所使用的测试信号也经由一测试电路 板所提供并运用多个探针输入至测试部并经由输出部传输至显示模块。拥有 不同架构、不同电路跨距、或者不同元件脚位的数目驱动模块的面板，皆可 共用相同的探针以及测试电路板等相关的测试设备以进行面板测试。 【专利类型】发明授权 【申请人】友达光电股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】台湾省新竹市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810081826.X 【申请日】2008-04-08 【申请年份】2008 【公开公告号】CN100580465C 【公开公告日】2010-01-13 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN100580465C 【授权公告日】2010-01-13 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/00; G01R31/02; G01R1/073; G01M11/00 【发明人】林建宏 【主权项内容】1.一种面板测试电路结构，用于传输一测试信号，其特征在于，所述面板 测试电路结构包含： 一显示模块，接收所述测试信号；以及 多条传输线，电性连接所述显示模块，用于传输所述测试信号，且每一 所述传输线包含一输入部、一测试部以及一输出部，其中所述测试部的二端 分别与所述输入部及所述输出部电性连接，所述输出部的一端与所述显示模 块电性连接； 一测试电路板，提供所述测试信号；以及 多个探针，电性连接所述测试电路板并接受及传输所述测试信号至所述 测试部，其中每一所述传输线的所述测试部的跨距大于或等于每一所述探针 的跨距； 一基板及一绝缘层，其中所述传输线设置于所述基板及所述绝缘层之间， 多个贯穿孔形成于所述绝缘层上，所述传输线的所述测试部部分是经由所述 贯穿孔暴露于所述绝缘层之外。 【当前权利人】友达光电股份有限公司 【当前专利权人地址】台湾省新竹市 【引证次数】4.0 【被引证次数】3 【自引次数】2.0 【他引次数】2.0 【被他引次数】3.0 【家族引证次数】4.0 【家族被引证次数】21
