【摘要】 本发明揭示一种显示器的检测方法及其系统，方法包含以下步骤：取得一残影指标的临界值，显示至少一个子画面于该电子纸显示器，依据该子画面的光学状态进行反射率的测量以及检查该反射率是否大于该残影指标的临界值。 【专利类型】发明申请 【申请人】财团法人工业技术研究院 【申请人类型】科研单位 【申请人地址】中国台湾新竹县 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810187832.3 【申请日】2008-12-23 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101762921A 【公开公告日】2010-06-30 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101762921B 【授权公告日】2012-01-18 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G02F1/167; G01M11/02; G02F1/01 【发明人】蔡琇如; 叶欣达; 程郁娟; 于学玲 【主权项内容】一种电子纸显示器的残影检测方法，包含以下步骤：取得一残影指标的临界值；显示至少一个子画面于该电子纸显示器；依据该子画面的光学状态进行反射率的测量；以及检查该反射率是否大于该残影指标的临界值。 【当前权利人】财团法人工业技术研究院 【当前专利权人地址】中国台湾新竹县 【引证次数】1.0 【被引证次数】8 【他引次数】1.0 【被他引次数】8.0 【家族引证次数】6.0 【家族被引证次数】8
