【摘要】 本发明公开一种可防止电磁干扰的测试治具及其测试方法。该可防止电磁干扰的测试治具设置于自动测试机台，该测试治具主要包含壳体、电磁屏蔽材以及测试装置，该壳体具有底板、盖板及多个侧板，该盖板具有测试孔，该侧板具有第一表面及第二表面，该侧板设置于该底板的上表面上以形成容置空间，该盖板覆盖于该容置空间上，该电磁屏蔽材至少形成于该侧板的该第二表面，该测试装置设置于该容置空间内。由于该壳体为密闭装置且在该壳体内形成有该电磁屏蔽材，故放置于该测试装置内的电子元件可受到该壳体的保护，以阻隔测试时的外来电磁干扰，且由于该测试治具设置于该自动测试机台，取代已知人工测试，具有降低生产成本及提高产能的功效。 【专利类型】发明授权 【申请人】日月光半导体制造股份有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】中国台湾高雄市 【申请人地区】中国 【申请人城市】台湾省 【申请号】CN200810074324.4 【申请日】2008-02-15 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101231307B 【公开公告日】2010-10-13 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101231307B 【授权公告日】2010-10-13 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R1/18; G01R31/00 【发明人】詹家华; 萧国忠; 许智成; 廖军达; 黄俊源 【主权项内容】一种可防止电磁干扰的测试治具，其至少包含：壳体，其具有底板、盖板及多个侧板，该底板具有第一上表面及第一下表面，该盖板具有第二上表面、第二下表面及测试孔，该测试孔贯穿该第二上表面与该第二下表面，该侧板具有第一表面及第二表面，该侧板设置于该底板的该第一上表面上以形成容置空间，该盖板覆盖于该容置空间上；电磁屏蔽材，其至少形成于该侧板的该第二表面；以及测试装置，其设置于该容置空间内，该测试装置具有线路载板及插座，该插座电性连接该线路载板，且该盖板的该测试孔显露出该插座；至少一侧板具有第一开口，该第一开口用以设置连接器；所述测试治具还包含有连接座，该连接座具有第二开口，该第二开口对应该侧板的该第一开口并用以固定该连接器。 【当前权利人】日月光半导体制造股份有限公司 【当前专利权人地址】中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26号 【被引证次数】1 【被他引次数】1.0 【家族被引证次数】8
