【摘要】 本发明公开了一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法，该消除方法应用了场的叠加原理以及偶极子天线辐射模型，通过采集不同距离的两个测试点上的相关量运用消除环境电平模块进行远场或近场情况的分析，从而可以近似求解出被试品在第一测试点A产生的辐射发射。所述电磁辐射发射自动测试所需的仪器有接收天线、EMI接收机和PC机，接收天线连接在EMI接收机的输入端接口上，PC机连接在EMI接收机的控制接口上；所述PC机存储有由近远场判断单元、远场分析单元和近场分析单元构成的消除环境电平模块。本发明消除环境电平的方法可以解决从复杂电磁环境下测试结果提取出被试品的辐射发射，有效地排除非标准测试条件下背景环境电平对测试结果的影响。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京航空航天大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100191 北京市海淀区学院路37号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810119478.0 【申请日】2008-09-01 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101349721B 【公开公告日】2010-07-07 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101349721B 【授权公告日】2010-07-07 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R29/08 【发明人】苏东林; 戴飞; 宋振飞; 谢树果; 高万峰; 史德民 【主权项内容】一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法，其特征在于包括有下列步骤：第一步：电磁辐射发射自动测试系统初始化完成；第二步：设置两个测试点位置设置第一测试点A，该第一测试点A距离被试品的距离dA＝λ/20～50λ，λ为测试频段的中心频率f0对应的波长，波长单位为米；设置第二测试点B，该第二测试点B距离被试品的距离dB＝λ/10～100λ，且dB＞dA，λ为测试频段的中心频率f0对应的波长，波长单位为米；第三步：采集两个测试点的相关量采集第一测试点A的被试品未工作状态下的背景环境电平N、被试品工作状态下A点测试辐射信号EA；采集第二测试点B的被试品工作状态下B点测试辐射信号EB；对于上述三个物理量的采集应当满足两个条件：一是测试频段相同，二是由PC机下发给接收机的控制指令Hh相同；第四步：近远场判断根据第二步获得的第一测试点A与被试品的距离dA；根据PC机设置的测试频段的中心频率f0；将dA与近远场分界点进行比较获得第一测试点A属于远场或者是近场，c表示被试品所在测试环境的光速，且c＝3×108m/s；当dA＞d0时，第一测试点A属于远场；转入第五步处理；当dA≤d0时，第一测试点A属于近场；转入第六步处理；第五步：远场分析获得被试品工作状态下的辐射发射将第二步获得的第一测试点A与被试品的距离dA；第二步获得的第二测试点B与被试品的距离dB；第三步获得的背景环境电平N；第三步获得的A点测试辐射信号EA；第三步获得的B点测试辐射信号EB；根据场的叠加原理和偶极子天线远场辐射模型进行场量提取Q远场获得排除背景环境电平N影响的A点产生的辐射发射SA；场量提取Q远场的关系式为：ω表示解析频点f对应的角频率，且ω＝2πf，解析频点f是指被试品发射的辐射频率中的待分析的任一频点；R表示第一测试点A与第二测试点B之间的距离，且R＝dB-dA；SA表示被试品工作状态下第一测试点A产生的辐射发射；N表示被试品在未工作状态下的背景环境电平；EA表示被试品在工作状态下，在第一测试点A测试得到的辐射信号；C1表示测试点的远场比值系数，且C1＝dB/dA；EB表示被试品在工作状态下，在第二测试点B测试得到的辐射信号；第六步：近场分析获得被试品工作状态下的辐射发射将第二步获得的第一测试点A与被试品的距离dA；第二步获得的第二测试点B与被试品的距离dB；第三步获得的背景环境电平N；第三步获得的A点测试辐射信号EA；第三步获得的B点测试辐射信号EB；根据场的叠加原理和偶极子天线远场辐射模型进行场量提取Q近场获得排除背景环境电平N影响的A点产生的辐射发射SA；场量提取Q近场的关系式为：C2表示测试点的近场比值系数，且C2＝(dB/dA)3。FSB00000052538700011.tif, FSB00000052538700021.tif, FSB00000052538700022.tif, FSB00000052538700023.tif, FSB00000052538700031.tif, FSB00000052538700032.tif, FSB00000052538700033.tif 【当前权利人】北京航空航天大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区学院路37号 【统一社会信用代码】12100000400011227Y 【家族被引证次数】6
