【摘要】 本发明公开了一种基于角度约束的空间圆姿态识别二义性消除方法，包括：通过标定得到摄像机的内部参数；获取摄像机拍摄空间圆得到的测量图像，处理得到测量图像中的椭圆边缘点和几何元素的特征点，并计算得到在摄像机坐标系下空间圆的圆心坐标和空间圆所在平面的法向量，进而得到与测量图像上的几何元素所对应的空间几何元素的表达式；根据空间几何元素的表达式，以及已知的空间角度约束，确定空间圆所在平面的真实法向量。本发明通过引入与空间圆所在的平面共面的几何元素，基于角度约束，有效的消除了空间圆姿态识别中的二义性问题，提高了空间圆姿态识别的实用性和可靠性。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京航空航天大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100083 北京市海淀区学院路37号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810167780.3 【申请日】2008-10-07 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101377404B 【公开公告日】2010-04-14 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101377404B 【授权公告日】2010-04-14 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01B11/00 【发明人】魏振忠; 赵征; 张广军; 王巍 【主权项内容】一种基于角度约束的空间圆姿态识别二义性消除方法，其特征在于，包括：对摄像机进行标定，得到摄像机的内部参数；获取所述摄像机拍摄空间圆得到的测量图像，并对所述测量图像进行处理，获取所述测量图像中的椭圆边缘点和几何元素的特征点；根据得到的所述摄像机内部参数、测量图像中的椭圆边缘点，拟合椭圆曲线的方程，计算得到在摄像机坐标系下空间圆的圆心坐标和空间圆所在平面的法向量；根据所述空间圆的圆心在摄像机坐标系下的坐标、空间圆所在平面在摄像机坐标系下的法向量，以及测量图像中几何元素的特征点，计算得到与所述几何元素对应的空间几何元素的表达式；根据空间几何元素的表达式得到空间几何元素的方向系数，并根据所述方向系数得到空间几何元素的夹角；根据空间角度约束，从空间几何元素的夹角中选取得到真实夹角，并确定空间圆所在平面的真实法向量。 【当前权利人】北京航空航天大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区学院路37号 【统一社会信用代码】12100000400011227Y 【引证次数】3.0 【自引次数】1.0 【他引次数】2.0 【家族引证次数】3.0 【家族被引证次数】16
