【摘要】 本发明提出了一种用于测试电路板的测试装置，包括测试信号 产生模块，用于产生测试信号；测试信号输出模块，与测试信号产 生模块连接，用于将测试信号输出至待测的电路板；待测信号接收 模块，用于接收电路板的待测信号；信号处理模块，与待测信 号接收模块连接，用于根据预定的标准信号对待测信号进行处理， 并产生处理结果信号；以及控制模块，用于控制测试信号产生模块 产生测试信号，以及接收信号处理模块的处理结果信号，处理 结果信号用于判断电路板是否合格。 【专利类型】发明申请 【申请人】四川虹欧显示器件有限公司 【申请人类型】企业 【申请人地址】100085北京市海淀区上地信息路11号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810223469.6 【申请日】2008-09-28 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101685135A 【公开公告日】2010-03-31 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101685135B 【授权公告日】2012-05-09 【授权公告年份】2012.0 【IPC分类号】G01R31/28 【发明人】许亮 【主权项内容】1.一种用于测试电路板的测试装置，包括： 测试信号产生模块，用于产生测试信号； 测试信号输出模块，与所述测试信号产生模块连接，用 于将所述测试信号输出至待测的电路板； 待测信号接收模块，用于接收所述电路板的待测信 号； 信号处理模块，与所述待测信号接收模块连接，用于根 据预定的标准信号对所述待测信号进行处理，并产生处理结果 信号；以及 控制模块，用于控制所述测试信号产生模块产生所述测 试信号，以及接收所述信号处理模块的所述处理结果信 号，所述处理结果信号用于判断所述电路板是否合格。 【当前权利人】四川虹欧显示器件有限公司 【当前专利权人地址】北京市海淀区上地信息路11号 【专利权人类型】其他有限责任公司 【统一社会信用代码】91510700662756819Q 【被引证次数】29 【被自引次数】1.0 【被他引次数】28.0 【家族被引证次数】29
