【摘要】 本发明实施例公开了一种路径延迟故障测试向量压缩方法及装置，采用路 径延迟故障测试向量生成等效电路，根据故障激活和传播条件，将路径延迟故 障等效为无扇出电路中的单固定型故障。根据电路拓扑结构，将电路划分为输 入相关区域和输出相关区域并分别进行测试向量的动态压缩，采用基于扇出数 的多目标路径延迟故障测试向量生成技术，在路径延迟故障测试向量生成过程 中进行测试向量集合的动态压缩，得到高压缩比的路径延迟故障压缩测试向量 集。本发明实施例提供的方法，在保证故障覆盖率为100％的基础上，可以在 较短时间内获得很高的测试向量压缩比，为芯片测试提供了可靠的路径延迟故 障测试方法。 【专利类型】发明授权 【申请人】清华大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100084北京市100084-82信箱 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810056676.7 【申请日】2008-01-23 【申请年份】2008 【公开公告号】CN100582804C 【公开公告日】2010-01-20 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN100582804C 【授权公告日】2010-01-20 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01R31/3183; G01R31/28 【发明人】向东; 李开伟 【主权项内容】1、一种路径延迟故障测试向量的压缩方法，其特征在于，该方法包括： A、输入测试电路中各路径的可测路径延迟故障构成的故障集以及测试电 路的电路拓扑结构，对所述测试电路的每个原始输入分别计算输入相关区域； 所述输入相关区域为与所述原始输入具有共同组合后继的所有原始输入； B、当所述原始输入的输入相关区域互不重叠时，将与所述原始输入相关 路径的路径延迟故障对应的测试向量进行压缩，得到第一压缩测试向量集；对 所述第一压缩测试向量集中各测试向量分别进行故障模拟，将故障模拟过程中 测试出的路径延迟故障从所述故障集中删除； C、将所述故障集中剩余的路径延迟故障对应的测试向量进行压缩，得到 第二压缩测试向量集； D、将所述第一压缩测试向量集和第二压缩测试向量集合并为压缩测试向 量集。 【当前权利人】清华大学 【当前专利权人地址】北京市100084-82信箱 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400000624D 【引证次数】2.0 【他引次数】2.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】13
