【摘要】 本发明属于显微光谱成像技术领域,涉及一种差动共焦拉曼光谱测试方法。该方法融合差动共焦检测方法和拉曼光谱检测方法技术特点,构成一种可实现样品微区光谱检测的测试方法,通过差动共焦技术精确捕捉激发光束聚焦焦点位置,探测对应位置的拉曼光谱,同时采用设计的光瞳滤波器,锐化差动共焦拉曼光谱系统的爱里斑主瓣,改善其微区拉曼光谱探测能力,精确获取包括微区样品光谱信息和位置信息的微区空间光谱信息。本发明显著提高了共焦拉曼光谱显微镜的微区光谱探测能力;具有绝对跟踪零点和双极性跟踪特性,实现几何尺度绝对测量;可广泛应用于生物医学、生命科学、生物物理、生物化学、材料、工业精密检测等技术领域,进行微区几何位置和光谱特性的高精度检测,具有极其重要的应用前景。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京理工大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100081 北京市海淀区中关村南大街5号 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810115601.1 【申请日】2008-06-25 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101290293B 【公开公告日】2010-07-28 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101290293B 【授权公告日】2010-07-28 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G01N21/65 【发明人】赵维谦; 邱丽荣; 郭俊杰; 周桃庚 【主权项内容】一种差动共焦拉曼光谱测试方法,实现本方法的装置包括激光器(1)、偏振分光镜(2)、1/4波片(3)、聚焦物镜(4)、两个聚光镜(8、10)、两个针孔(11、12),两个探测器(13、14)、两个分光镜(5、6)、被测样品(7)、三维工作台(9)、聚焦信号差动相减处理单元(15)、光谱检测系统(16)、计算机处理系统(17)、光瞳滤波器(18)、滤光片(19)、扩束器(20),其特征在于:首先通过差动共焦技术精确捕捉激发光束聚焦焦点位置,然后探测对应该位置的拉曼光谱;采用光瞳滤波器,对差动共焦拉曼光谱仪器的光瞳函数进行掩膜修正,锐化爱里斑主瓣,进一步改善差动共焦拉曼光谱系统的微区光谱探测能力;通过差动共焦光路布置及差动探测来提高轴向分辨力,实现样品微区三维尺度及光谱特性的高信噪比检测;该方法的具体实现步骤如下:1)使可激发出样品拉曼光谱的激发光束透过偏振分光镜(2)、1/4波片(3)、聚焦物镜(4)后,聚焦在被测样品(7)上,并激发出载有样品光谱特性的拉曼散射光;2)移动被测样品(7),使激发光及对应被测样品不同区域的拉曼散射光再次通过1/4波片(3)并被偏振分光镜(2)反射,利用两分光镜(5、6)将偏振分光镜(2)反射的激发光和拉曼光谱分别进行分光;3)利用差动共焦显微系统的所述两个探测器(13、14),分别探测第一分光镜(5)透射的光束,测得反映被测样品凸凹变化的强度响应IA(v,u,-uM)和IB(v,u,+uM),并将IA(v,u,-uM)和IB(v,u,+uM)差动相减,得差动共焦强度响应I(v,u),其中,v为横向归一化光学坐标,u为轴向归一化光学坐标,uM为针孔轴向归一化光学偏移量;4)利用光谱检测系统(16)检测第一分光镜(5)反射的光束,测得载有被测样品光谱信息的拉曼散射光谱I(λ),其中λ为波长;5)使被测样品沿x、y向扫描,聚焦物镜(4)沿z向扫描,利用步骤3)和步骤4)所示的方法,测得对应物镜聚焦点位置附近的一组i个差动共焦强度响应I(v,u)和载有被测样品光谱信息的拉曼散射光谱I(λ)的序列测量信息{Ii(λ),Ii(v,u)}; 6)利用可分辨区域σi对应的差动共焦强度响应Ii(v,u),找出对应σi区域的光谱信息Ii(λ)值,再依据v与横向位置坐标(x,y)的关系以及u与轴向位置坐标z的关系,重构反映被测物可分辨区域σi三维尺度和光谱特性的信息Ii(xi,yi,zi,λi);即实现了微区几何尺寸(x,y,z)和载有被测样品光谱信息的拉曼散射光谱I(λ)的高精度检测;7)对应最小可分辨区域σmin的三维尺度和光谱特性可由下式确定:8)优化光瞳滤波器(18)参数,压缩激发聚焦光斑的尺寸,提高微区光谱探测能力。FSB00000046177200021.tif 【当前权利人】北京理工大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区中关村南大街5号 【统一社会信用代码】12100000400009127B 【引证次数】2.0 【被引证次数】12 【他引次数】2.0 【被自引次数】12.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】41