【摘要】 本发明公开了一种保偏光纤侧视图像匹配对轴方法及其装置，属于信息、光电子技术领域。本发明的方法为：1)将待对轴的两根保偏光纤中心轴对齐在同一直线上；2)用平行光照射光纤的一侧并记录此时光纤对侧的出射光强分布序列，3)用与上述平行光成α角的平行光照射光纤的另一侧并记录此时光纤该侧对侧的出射光强分布序列；4)根据记录的出射光强分布序列，分别计算每一方向照射时两光纤的互相关系数R1和R2；5)旋转其中一根保偏光纤，重复步骤2)～4)，根据互相关系数确定对轴位置。本发明的系统包括图像成像系统、数据处理单元、光纤调节控制系统。与现有技术相比，本发明能实现各种型号保偏光纤准确对轴，且通用性强、成本低。 【专利类型】发明授权 【申请人】北京大学 【申请人类型】学校 【申请人地址】100871 北京市海淀区颐和园路5号北京大学 【申请人地区】中国 【申请人城市】北京市 【申请人区县】海淀区 【申请号】CN200810226457.9 【申请日】2008-11-11 【申请年份】2008 【公开公告号】CN101419311B 【公开公告日】2010-12-22 【公开公告年份】2010 【授权公告号】CN101419311B 【授权公告日】2010-12-22 【授权公告年份】2010.0 【IPC分类号】G02B6/26; G02B6/24 【发明人】廖旺; 王子宇 【主权项内容】一种保偏光纤侧视图像匹配对轴方法，其步骤为：1)将待对轴的两根保偏光纤中心轴调整到同一直线上；2)用平行光1照射两待对轴保偏光纤的一侧，并分别记录此时两光纤对侧的出射光强分布序列I11和I12；3)用与上述平行光1成α角的平行光2照射两待对轴保偏光纤的另一侧，并分别记录此时两光纤该侧对侧的出射光强分布序列I21和I22；其中0＜α≤π/2；4)根据记录的出射光强分布序列I11、I12计算平行光1照射时两待对轴保偏光纤的互相关系数R1，根据出射光强分布序列I21、I22计算平行光2照射时两待对轴保偏光纤的互相关系数R2；5)旋转其中一根保偏光纤，重复步骤2)～4)，寻找两待对轴保偏光纤的互相关系数之和最大值时的位置，或R1和R2分别大于各自对应阈值时的位置。 【当前权利人】北京大学 【当前专利权人地址】北京市海淀区颐和园路5号北京大学 【专利权人类型】公立 【统一社会信用代码】12100000400002259P 【引证次数】2.0 【被引证次数】6 【他引次数】2.0 【被他引次数】6.0 【家族引证次数】2.0 【家族被引证次数】26
